[发明专利]一种可穿戴设备整机电流测试方法

说明书

一种可穿戴设备整机电流测试方法，一是用户可以在不拆机的情况下，排除对电池充电、锂电池的影响对可穿戴设备的电流进行测试；二是本申请区别于以往单独对某个负载进行测试的方法，创造性的考虑到多个负载之间的相互影响，从多个负载存在相互干扰的前提下，对电流进行测试，这种方式在可穿戴领域未被使用过，甚至未被提及过。

技术领域

本发明涉及一种可穿戴设备的测试方法，具体而言，涉及一种可穿戴设备的可进行整机电流测试的测试方法。

背景技术

目前的智能可穿戴设备如智能手表手环防水要求越来越高，这就导致产品拆机就造成整机报废，工厂生产时会测试PCBA电流，以确保板子SMT贴片完成后无功能和电性能故障，确保整机组装完成后功能和性能正常，可检测出PCBA在生产组装后端造成的损伤，但是组装成整机后无法测试整机电流功耗，如产品不良整机装配后拆机将报废物料，或者批量出货客诉造成批量损失。

这种测试PCBA功能和性能的方式可以在生产线组装前端发现功能和电性能故障，但是生产过程中往往很难避免人员和设备损伤电路板和元器件，如生产过程中掉入异物，飞溅的锡渣，器件脱落，PCB变形导致电容损伤漏电等，整机组装后往往只能测试功能是否异常，无法测试整机电性能，如整机因为PCB或器件损伤漏电是无法检测的，尤其是可穿戴设备如智能手环手表对待机续航时间要求非常高，一旦由于生产造成的不良无法及时发现，造成批量客诉损失，并且生产线无法及时识别到风险，由于持续生产造成的大批量损失。

发明内容

手表或者手环类的可穿戴设备，里面需要安装各种芯片，一般性的，具有蓝牙芯片和WIFI芯片，当然，也可能有NB-IOT芯片和传统的GSM芯片，这些都属于恶意进行数据传输的芯片。当前的智能手表在电流检测之后计算的理论待机、用机时长总是比实际的长，拆机检测之后，也通过检测每种负载的电流来判断设备是否正常，对于系统整体电流与每个负载展现出来的差异比较难解释。

本发明基于上述的缺陷提供一种可穿戴设备如智能手表手环等设备实现整机测试电流方法，解决产品整机无法测试电性能的缺陷，并且有效的批量检测生产不良，并反馈问题及时改善生产工艺，并创造性的提出交叉检测的概念，使得手表能在各种芯片的布局上，尽量减少相互之间的干扰。进一步提高产品批量生产的可靠性，避免生产工艺和设计考虑不全造成的批量不良损失。

本发明具体的技术方案如下：

一种可穿戴设备整机电流测试方法，所述方法包括，

S1，不拆机切断所述可穿戴设备自身的电池供电电路以及充电电路；

S2，外接具有带有电流测试单元的电源电路；

S3，查看所述可穿戴设备待机的第一电流；

S4，第一芯片连接移动终端或服务器，保持屏幕关闭，测试第二电流值；根据所述第一电流值和所述第二电流值来计算第一芯片保持连接的第三电流值；

S5，同步所述可穿戴设备的数据至移动终端或服务器，测试数据传输且屏幕关闭时的第四电流值，根据所述第四电流值和所述第三电流值计算第一芯片传输数据的第五电流值；

S6，关闭第一芯片，打开所述可穿戴设备的第二芯片，关闭屏幕，测试第六电流；根据所述第一电流值和所述第六电流值来计算第二芯片保持连接的第七电流值；

S7，利用第二芯片同步数据到移动终端或服务器，测试数据传输且屏幕关闭时的第八电流，根据所述第八电流值和所述第七电流值，得到第二芯片数据传输的第九电流值；

S9，同时打开第一芯片和第二芯片，关闭屏幕，测试此时的第十电流，若所述第十电流与所述第三电流和第七电流之和的差值小于第一电流阈值（每个电流阈值都应该加上步骤S3的第一电流值），则判断第一芯片和第二芯片连接电流合格；若否，则判断第一芯片和第二芯片同时连接存在干扰；