[发明专利]一种EFT/ESD/CS电磁干扰分析仪

说明书

本发明属于电子检测技术领域，具体涉及一种EFT/ESD/CS电磁干扰分析仪，包括控制芯片、MOS管、继电器、脉冲变压器以及高压回路，控制芯片与MOS管的输入端连接，用于通过控制芯片输出可调的脉冲波以控制MOS管的占空比；MOS管的输出端与脉冲变压器的输入端连接，用于通过脉冲变压器产生脉冲高压一；脉冲变压器的输出端与高压回路连接，用于通过高压回路输出脉冲高压二；控制芯片还与继电器连接，继电器与高压回路连接，用于通过控制芯片控制继电器的通断以实现高压回路有序输出脉冲高压二。本发明将标准波形简易化，通过模拟近似标准波形来达到分析的目的；通过局部耦合，更容易发现局部电路的缺陷。

技术领域

本发明属于电子检测技术领域，具体涉及一种EFT/ESD/CS电磁干扰分析仪。

背景技术

IEC61000-4系列标准中要求的各类抗干扰测试设备在全球范围内被实验室使用，用来测量电子类产品是否满足电磁兼容要求，各自的波形都严格的按照标准来设计和使用，这些仪器因标准等级的不同而共同呈现个头大、场地要求严格等要求。在实际研发过程中，通过传统仪器只能看到测试结果，不能知道产品内部那些电路是敏感电路，都是通过EMC工程师的经验来分析实施。其中， EMC测试项目包括电快速脉冲群测试EFT、静电放电测试ESD及传导抗扰度测试CS。ESD静电干扰不仅产生几千伏的高压脉冲，同时因其上升沿只有0.7ns，通过傅里叶变换(1/πTr)，将产生近500MHZ带宽的高频高压干扰脉冲；EFT群脉冲干扰不仅产生1-2kV的高压，同时干扰信号上升沿只有5ns，将产生近百兆的高压高频脉冲；CS传导抗扰度在150KHZ-80MHZ测试范围产生连续干扰。在这些高频高压干扰脉冲和连续干扰下，产品测试过程中一旦出现问题，无法通过专业设备检测具体定位EMC被干扰问题根源，那么EMC设计如何实现近场电磁干扰的缺陷检测是当前亟需解决的问题。

发明内容

基于现有技术中存在的上述不足，本发明提供一种电磁干扰分析仪。

为了达到上述发明目的，本发明采用以下技术方案：

一种EFT/ESD/CS电磁干扰分析仪，包括控制芯片、MOS管、继电器、脉冲变压器以及高压回路，所述控制芯片与MOS管的输入端连接，用于通过控制芯片输出可调的脉冲波以控制MOS管的占空比；所述MOS管的输出端与脉冲变压器的输入端连接，用于通过脉冲变压器产生脉冲高压一；所述脉冲变压器的输出端与高压回路连接，用于通过高压回路输出脉冲高压二；所述控制芯片还与继电器连接，继电器与高压回路连接，用于通过控制芯片控制继电器的通断以实现高压回路有序输出脉冲高压二。

作为优选方案，所述控制芯片为74HC系列，包括依次连接的HC132D、 HC123D和HC00D，所述HC00D分别与MOS管的输入端连接、继电器连接。

作为优选方案，所述HC132D与外围充放电电路连接，以使HC132D芯片的2Y和3Y引脚产生标准的脉冲波。

作为优选方案，所述外围充放电电路包括1.26ms方波外围电路和14ms方波外围电路。

作为优选方案，所述HC123D的通道1与HC132D的2Y引脚连接，HC123D 芯片在脉冲波的输入下，通过控制1REXT引脚的状态以使1Q引脚输出占空比可调的脉冲；所述HC123D的通道2与HC132D的3Y引脚连接，HC123D在脉冲波的输入下，使得引脚输出标准脉冲。

作为优选方案，所述HC123D外接占空比可调外围电路。

作为优选方案，所述HC00D分别与所述HC123D的1Q引脚和引脚连接，所述HC00D基于占空比可调的脉冲输入并通过通道4的输出以控制MOS 管，所述HC00D基于标准脉冲的输入并通过通道3输出以控制继电器。

作为优选方案，所述HC00D通过通道4的输出控制MOS管，以使输入脉冲变压器的12V直流电源形成开关电源。