[发明专利]化学发光免疫分析仪的温育槽组件及检测方法在审
申请号: | 201910215681.6 | 申请日: | 2019-03-21 |
公开(公告)号: | CN111721954A | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 罗戴维;马长望;王东元;刘志刚 | 申请(专利权)人: | 深圳市活水床旁诊断仪器有限公司 |
主分类号: | G01N35/04 | 分类号: | G01N35/04;G01N35/00;G01N33/53;G01N21/76 |
代理公司: | 广东恩典律师事务所 44549 | 代理人: | 张绍波;李健 |
地址: | 518071 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 化学 发光 免疫 分析 温育槽 组件 检测 方法 | ||
1.一种化学发光免疫分析仪的温育槽组件,其特征在于,包括:内部具有直线通道的温育槽;所述温育槽的上面沿所述直线通道方向设有与所述直线通道连通的不同操作位以进行化学发光检测;所述直线通道的一侧设置可驱动内封有一次性测试试剂的芯片盒通行的驱动机构。
2.如权利要求1所述的化学发光免疫分析仪的温育槽组件,其特征在于,所述操作位包括穿刺位、加样位、磁分离清洗位以及检测位。
3.如权利要求2所述的化学发光免疫分析仪的温育槽组件,其特征在于,所述温育槽的一侧还设有用于感测所述芯片盒的位置信息的到位传感器;所述到位传感器设置在所述直线通道的芯片盒入口附近。
4.如权利要求3所述的化学发光免疫分析仪的温育槽组件,其特征在于,所述到位传感器、所述检测位、所述加样位、所述穿刺位以及所述磁分离清洗位距离所述芯片盒入口的距离依次变远。
5.如权利要求4所述的化学发光免疫分析仪的温育槽组件,其特征在于,所述到位传感器和所述芯片盒入口之间设有识别位;所述识别位与所述直线通道连通。
6.如权利要求2-5任一项所述的化学发光免疫分析仪的温育槽组件,其特征在于,所述穿刺位旁设有穿刺固定位。
7.如权利要求2-5任一项所述的化学发光免疫分析仪的温育槽组件,其特征在于,所述磁分离清洗位旁设有吸液固定位。
8.如权利要求6所述的化学发光免疫分析仪的温育槽组件,其特征在于,所述驱动机构通过驱动一夹持限位机构运动以驱动所述芯片盒通行。
9.如权利要求8所述的化学发光免疫分析仪的温育槽组件,其特征在于,所述夹持限位机构包括:与所述驱动机构连接的滑块、在所述滑块一侧夹持所述芯片盒的夹持机构以及在所述驱动机构一侧对所述芯片盒的运动进行限位的限位装置。
10.一种检测方法,用于化学发光免疫分析仪,其特征在于,包括:
在温育槽的内部设置直线通道;
在所述温育槽的上面沿所述直线通道方向设置与所述直线通道连通的不同操作位以进行化学发光检测;
在所述直线通道的一侧设置驱动机构;
设置芯片盒;所述芯片盒内封有一次性测试试剂;
通过所述驱动机构驱动所述芯片盒沿所述直线通道通行。
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