[发明专利]一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置在审

专利信息
申请号: 201910224892.6 申请日: 2019-03-24
公开(公告)号: CN111735928A 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 尹翠哲 申请(专利权)人: 尹翠哲
主分类号: G01N33/204 分类号: G01N33/204
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 051230 河北省石家*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 多晶 铸造 单晶小方锭 端面 少子 寿命 自动 升降 装置
【说明书】:

发明公开了一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置,其特征在于:包括底板、导柱、导套、顶板、挡圈、红外高度测试仪、垂直传动装置,所述底板可以通过螺栓固定在现有少子寿命测试仪基座上,也可以直接放在少子寿命测试仪基座上,所述四个导柱固定底板上,所述四个导套固定在顶板上,所述顶板上表面用来放置待测端面少子寿命的多晶、单晶或铸造单晶小方锭,所述挡圈用来固定多晶、单晶或铸造单晶小方锭,防止其滑动,所述红外高度测试仪由导柱、导套、红外线发射装置组成,红外线高度和少子寿命测试仪探头的高度一致,所述垂直传动装置可以是液压传动方式、气压传动方式、螺杆传动等方式。

技术领域

本发明涉及光伏铸锭领域,具体是指用于测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置。

背景技术

为了保证多晶硅铸锭、单晶或铸造单晶铸锭质量的稳定性,产线上往往要对多晶、单晶或铸造单晶小方锭的截断面进行少子寿命测试,而小方锭的高度不固定,每次测试少子寿命时需要手动调节探头高度,探头的调节范围在5mm以内,造成有些小方锭不能测试,并且手动调节工作效率很低,市场上暂无测试端面少子寿命的自动升降装置,本发明专门设计了一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置。

本发明的实现方案如下 :测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置,包括底板、导柱、导套、顶板、挡圈、红外高度测试仪、垂直传动装置,所述底板可以通过螺栓固定在现有少子寿命测试仪基座上,也可以直接放在少子寿命测试仪基座上,所述四个导柱固定底板上,所述四个导套固定在顶板上,所述导柱和导套采用间隙配合,并且可以跟随所述垂直传动装置在垂直方向上运动,所述顶板用来放置待测端面少子寿命的多晶、单晶或铸造单晶小方锭,所述挡圈用来固定多晶、单晶或铸造单晶小方锭,防止其滑动,所述红外高度测试仪由导柱、导套、红外线发射装置组成,红外线高度和少子寿命测试仪探头的高度一致,所述垂直转动装置可以是液压传动方式、气压传动方式、螺杆传动等方式。

有益效果

本发明提供的一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置有如下优点。

1.实现了小方锭高度的自动调节,提高了工作效率;

2.四个导柱和四个导套保证顶板只在垂直方向运动,从而保证了顶板上放置的小方锭端面呈水平状态,使少子寿命测试的结果比较精确。

附图说明

以下结合附图对本发明作进一步详述。

图 1是发明的结构示意图;

图 2是测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命过程图;

图 3是测得的铸造单晶小方锭端面少子寿命图。

具体实施方式

如图1-2所示,一种测试多晶、单晶或铸造单晶小方锭端面少子寿命时的自动升降装置括包括底板1、导柱2、导套3、顶板4、挡圈5、垂直传动装置7,红外高度测试仪导柱6、红外高度测试仪导套8、红外线发射器9,所述底板1可以通过螺栓固定在现有少子寿命测试仪基座上,也可以直接放在少子寿命测试仪基座上,所述四个导柱2固定底板1上,所述四个导套3固定在顶板4上,所述顶板4上表面用来放置待测端面少子寿命的多晶、单晶或铸造单晶小方锭10,所述挡圈5用来固定多晶、单晶或铸造单晶小方锭10,防止其滑动,所述垂直转动装置7可以是液压传动方式、气压传动方式、螺杆传动装置。

本发明的工作方式

如图1-2所示,将少子寿命测试仪的探头11固定在一个高度保持不变,调节红外高度测试仪导柱6和红外高度测试仪导套8,使红外线发射器9发射的红外线13和少子寿命测试仪的探头11在同一水平面上,此后少子寿命测试仪的探头11和红外线13的高度固定保持不变,电脑收集红外线的高度信号,将多晶、单晶或铸造单晶小方锭放置在顶板4上,垂直传动装置7向上运动,当多晶、单晶或铸造单晶小方锭上表面和红外线重合时,垂直传动装置7停止向上运动,少子寿命测试仪的探头11在导轨12上运动,测试整个端面的少子寿命,如图3所示为测得的铸造单晶小方锭端面少子寿命图,测试结束后垂直传动装置7向下运动回到最低点,为测试下一个小方锭端面少子寿命做准备。

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