[发明专利]放射性检测装置有效
申请号: | 201910225633.5 | 申请日: | 2019-03-22 |
公开(公告)号: | CN109870717B | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 刘超;王强;郑玉来;李永;田利军;郭凤美;杨璐;颜静儒;田星皓;王国宝;孙盛远 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202;G01T3/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张成新 |
地址: | 102413 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射性 检测 装置 | ||
1.一种放射性检测装置,其特征在于,所述放射性检测装置包括集成化设置的γ射线检测系统和中子检测系统,所述γ射线检测系统包括NaI(Tl)晶体探测器;所述中子检测系统包括3He中子探测器;
所述γ射线检测系统还包括核素识别模块,用于根据探测得到的γ射线的能量来判断放射源的核素的种类;
所述γ射线检测系统还包括天然40K校正源,所述放射性检测装置实时进行本底谱的测量,所述天然40K校正源用于根据40K在本底谱中的位置进行能量谱的校正;
所述γ射线检测系统还包括温度补偿模块,用于建立温度补偿曲线,在所述放射性检测装置使用时根据所述温度补偿曲线和当前的温度来实时进行能量谱的校正;以及
所述NaI(Tl)晶体外设置温度传感器,用于实时监测当前的温度。
2.根据权利要求1所述的放射性检测装置,其特征在于,所述NaI(Tl)晶体探测器包括NaI(Tl)晶体和集成设置在所述NaI(Tl)晶体一端的光电倍增管。
3.根据权利要求2所述的放射性检测装置,其特征在于,所述NaI(Tl)晶体的面积不小于400cm2。
4.根据权利要求1所述的放射性检测装置,其特征在于,所述中子检测系统还包括慢化体,设置于所述3He中子探测器的外周侧,所述慢化体用于将快中子进行慢化,然后通过所述3He中子探测器进行探测。
5.根据权利要求1所述的放射性检测装置,其特征在于,所述放射性检测装置还包括电源系统,用于为所述γ射线检测系统和中子检测系统供电。
6.根据权利要求1所述的放射性检测装置,其特征在于,所述放射性检测装置通过掌上电脑来实现远程控制。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的放射性检测装置,其特征在于,所述放射性检测装置为门式的安检装置。
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