[发明专利]一种天线雷达散射截面测量方法、装置及计算机设备

权利要求书

1.一种天线雷达散射截面测量方法，应用于待测天线与辅助天线组成的测量系统中，其特征在于，所述方法包括：

获取在N个不同位置下所述测量系统测得的总群时延GD_XY、测量系统自身群时延GD₀及距离群时延GD_d；

根据所述总群时延GD_XY、自身群时延GD₀及距离群时延GD_d生成测量曲线P_1xy；

根据由所述待测天线与辅助天线的散射特性及距离确定的拟合参数构建拟合曲线P_2xy；

根据所述测量曲线P_1xy和拟合曲线P_2xy构建目标函数；

获取所述目标函数取最小值时的散射特性最优解；

根据所述散射特性最优解计算所述待测天线的散射截面。

2.根据权利要求1所述的天线雷达散射截面测量方法，其特征在于，所述测量曲线P_1xy的表达式为：

P_1xy＝GD_XYn-GD_d-GD₀，

其中，GD_XYn为第n个位置下所述测量系统测得的总群时延，n≤N。

3.根据权利要求1或2所述的天线雷达散射截面测量方法，其特征在于，所述测量曲线P_2xy的表达式为：

其中，GD_{xy_fit}为辅助天线和待测天线群时延之和的拟合参数；β_{xy_fit}为辅助天线和待测天线的反射系数的拟合参数，其中，β_xy＝β_xβ_y，β_x、β_y分别为辅助天线和待测天线口面对于空间电磁波的反射系数；φ_xy__fit为相位常数的拟合参数；c为光速；d为待测天线与辅助天线间的距离；k＝2π/λ，λ为电磁波波长。

4.根据权利要求3所述的天线雷达散射截面测量方法，其特征在于，所述目标函数的表达式为：

5.根据权利要求4所述的天线雷达散射截面测量方法，其特征在于，所述获取所述目标函数取最小值时的散射特性最优解，包括：

对所述目标函数进行拟合，将所述Δ_xy最小时的β_{xy_fit}确定为所述散射特性最优解β_xy；

若所述待测天线与辅助天线为相同种类的天线，使β_xy＝β_y²成立。

6.根据权利要求5所述的天线雷达散射截面测量方法，其特征在于，通过以下公式计算所述待测天线的散射截面：

其中，β_xy＝β_y²。