[发明专利]一种X射线衍射光学聚焦元件的制造方法有效
申请号: | 201910234877.X | 申请日: | 2019-03-26 |
公开(公告)号: | CN109903877B | 公开(公告)日: | 2020-09-18 |
发明(设计)人: | 王飞 | 申请(专利权)人: | 王飞 |
主分类号: | G21K1/06 | 分类号: | G21K1/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 235100 安徽省淮北市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 衍射 光学 聚焦 元件 制造 方法 | ||
1.一种制备具有高的衍射效率和成像分辨率的X射线衍射光学聚焦元件的制造方法,包括如下步骤:
步骤1,通过化学蚀刻的方式在12寸单晶硅晶圆表面蚀刻出宽度和深度都为5-25微米而长度为220毫米的凹槽;
步骤2,选定直径为3-20μm,长度为200mm的钨丝作为中心细丝;
步骤3,将钨丝固定在所述晶圆表面蚀刻出的凹槽中,将固定有钨丝的晶圆在高能量离子注入机中进行离子轰击,离子注入机在所述离子轰击时的参数为:能量范围1-1.8MeV,离子源为磷离子,轰击时间为2-4小时;
步骤4,步骤3轰击完成后,从离子注入机取出晶圆,将钨丝沿轴向旋转180度后,再将钨丝固定到所述晶圆表面蚀刻出的凹槽中,重复步骤3的轰击过程;
步骤5,在轰击完成后的一小时内,将步骤4制备的钨丝作为原子层沉积的中心衬底放置在原子层沉积系统中;
步骤6,根据给定的X射线衍射光学聚焦元件的最外层厚度和计算得到的相应层数,利用原子层沉积系统在金属丝表面交替沉积氧化铝和氧化铪,形成一系列同心圆环结构;
步骤7,镀膜完成后,利用聚焦离子束技术对镀膜后的金属丝样品切割成适当厚度的薄片,切割时采用能量为30kV、离子束流大于1000pA的镓离子,并采用能量为30kV、离子束流小于1000pA的镓离子进行抛光,抛光完成后得到所需精度和厚度的X射线衍射光学聚焦元件。
2.如权利要求1所述的X射线衍射光学聚焦元件的制造方法,其特征在于:所述步骤6的具体沉积参数为,氧化铝原子层沉积的第一前驱体为室温三甲基铝,第二前驱体为室温双氧水,通入所述第一前驱体50ms后进行30s的吹扫,然后通入第二前驱体40ms后进行20s的吹扫,真空度保持在0.1torr以下,金属丝中心衬底的温度保持在120-150摄氏度;氧化铪原子层沉积的第一前驱体为80摄氏度的四(二甲氨基)铪,第二而前驱体为室温双氧水,通入所述第一前驱体125ms后进行50s的吹扫,然后通入第二前驱体40ms后进行20s的吹扫,真空度保持在0.1torr以下,金属丝中心衬底的温度保持在150-180摄氏度。
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