[发明专利]一种利用同步辐射原位成像图像灰度值判断二元合金中金属元素浓度的方法有效

专利信息
申请号: 201910235985.9 申请日: 2019-03-27
公开(公告)号: CN111553871B 公开(公告)日: 2023-06-16
发明(设计)人: 于鹏飞;夏明许;曾龙;李建国 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/90;G01N23/04
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 刘洪勋
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 利用 同步 辐射 原位 成像 图像 灰度 判断 二元 合金 金属元素 浓度 方法
【权利要求书】:

1.一种利用同步辐射成像图像灰度值判断二元合金中金属浓度的方法,其特征在于,该方法按以下步骤实施:

步骤一、制备一个二元合金同步辐射原位成像样品,并内嵌两个不同纯合金元素结构;

步骤二、采用同步辐射原位成像技术对样品的进行观测,得到扩散层灰度图像;

步骤三、将扩散层灰度图像用mathlab软件转换为灰度值表格,各像素灰度为G0i,j,i=1, 2……m,j=1,2……n;

步骤四、将样品去除,采用同步辐射原位成像技术,得到空散时的灰度图像;

步骤五、将步骤四灰度图像用matlab软件转换为灰度值表格,各像素灰度为G’i,j,i=1, 2……m,j=1,2……n;

步骤六、对二元合金采取扫描电镜元素分析处理,纵向取点,取点间距与灰度图像像素点间间距相近;

步骤七、在灰度值图像中选取与扫描电镜纵向取点位置相同处读取灰度值,并用G=G0-G’消除空散的影响,将G与取点参数进行一一对应;

步骤八、进行拟合处理得到灰度值与二元合金中某种金属元素质量分数的对应关系;

步骤九、利用嵌入的两个纯合金元素,对拟合方程进行较准,如偏差大于1%,重复上述过程进一步拟合逼近;

步骤十、利用拟合方程得到灰度图像任意一点的金属质量分数。

2.根据权利要求1所述一种利用同步辐射成像图像灰度值判断二元合金中金属浓度的方法,其特征在于:所述步骤八中拟合得到的公式的格式为:

其中,x是金属质量分数,y是消除空散影响后的灰度值。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910235985.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top