[发明专利]用于管道的反向散射X射线检查系统在审

专利信息
申请号: 201910237110.2 申请日: 2019-03-27
公开(公告)号: CN110320222A 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: M·萨法伊;G·E·乔治森 申请(专利权)人: 波音公司
主分类号: G01N23/20008 分类号: G01N23/20008
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 黄纶伟;李辉
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 细长结构 扫描 滤波 反向散射 流体 不一致 扫描器 腔室 移除 检测
【权利要求书】:

1.一种扫描系统(104),所述扫描系统(104)包括:

扫描器(112),所述扫描器(112)被配置为发射x射线束(118);以及

控制器(114),所述控制器(114)与所述扫描器(112)进行通信,其中,所述控制器(114)被配置为控制所述扫描器(112)以对具有含流体(108)的腔室(122)的细长结构(102)进行扫描(116),并且对所述扫描(116)中的数据(124)进行滤波,以移除所述扫描(116)中的数据(124)中因所述流体(108)而得到的部分,形成滤波后数据(126),使得能够在所述滤波后数据(126)中检测所述细长结构(102)的壁上的不一致(110)。

2.根据权利要求1所述的扫描系统(104),其中,所述扫描器(112)还包括以下中的至少一项:

x射线源(300),所述x射线源(300)被配置为发射所述x射线束(118);以及传感器系统(304),所述传感器系统(304)被配置为检测所述x射线束(118)遇到所述细长结构(102)而引起的反向散射(314);

偏振网格(518),所述偏振网格(518)使所述反向散射(314)中在大体上垂直于所述偏振网格(518)的方向上传播的x射线通过,其中,所述反向散射(314)中的所述x射线是所述x射线束(118)遇到所述细长结构(102)而引起的;以及

遮罩(520),所述遮罩(520)被配置为减少所述反向散射(314),其中,所述细长结构(102)位于所述x射线源(300)与所述遮罩(520)之间。

3.根据权利要求1所述的扫描系统(104),其中,所述控制器(114)执行以下中的至少一项:

对所述数据(124)进行滤波,以移除与背景噪声关联的强度。

4.根据权利要求1所述的扫描系统(104),其中,所述扫描(116)中的数据(124)包括表示由所述扫描器(112)检测到的所述x射线束(118)的反向散射(314)的强度的像素,其中,所述强度与所述反向散射(314)的能量对应,并且其中,所述控制器(114)对所述数据(124)进行滤波,以移除与所述流体(108)关联的强度。

5.根据权利要求4所述的扫描系统(104),

其中,所述控制器(114)选择包含所述不一致(110)的强度组,并且使用所述强度组对所述数据(124)进行滤波,以使针对所述不一致(110)的数据(124)通过,以及

其中,使用针对所述不一致(110)的标准来选择所述强度组。

6.根据权利要求1所述的扫描系统(104),其中,所述控制器(114)使用高通滤波器、低通滤波器和带通滤波器中的至少一种来对所述数据(124)进行滤波。

7.根据权利要求1所述的扫描系统(104),所述扫描系统(104)还包括:

转移结构(130),所述转移结构(130)被配置为在所述细长结构(102)上以轴向方式和旋转方式中的至少一种方式来移动,其中,所述转移结构(130)选自如下中的一种:机动臂、履带臂和基于轨迹的臂。

8.根据权利要求1所述的扫描系统(104),其中,所述扫描器(112)由如下中的至少一种组成:x射线扫描系统、反向散射x射线系统和透射x射线系统。

9.根据权利要求1所述的扫描系统(104),其中,所述细长结构(102)选自如下中的一种:管道(106)、绝缘管道、非绝缘管道、滚筒、燃料箱和导管。

10.根据权利要求1所述的扫描系统(104),其中,所述不一致(110)选自如下中的至少一种:裂缝、腐蚀、氧化、层裂、分层和空隙。

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