[发明专利]激光雷达测距装置有效

专利信息
申请号: 201910238113.8 申请日: 2019-03-27
公开(公告)号: CN109991614B 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 王吉 申请(专利权)人: 深圳市速腾聚创科技有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/481
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 方高明;王珊珊
地址: 518051 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 激光雷达 测距 装置
【权利要求书】:

1.一种激光雷达测距装置,其特征在于,包括:

发射系统,用于发射出射激光;

分光镜,用于使所述出射激光的出射P偏振光穿过所述分光镜;

双折射晶体,用于使所述出射P偏振光从所述双折射晶体的第一光口入射、第二光口出射;

振镜,用于改变所述出射P偏振光的方向向外出射,还用于接收反射激光,所述反射激光为所述出射P偏振光向外出射后被物体反射产生的激光,所述反射激光含有P偏振光和S偏振光;

所述双折射晶体,还用于使所述振镜接收的所述反射激光从所述第二光口入射,所述反射激光在所述双折射晶体内分为两路,分别为第一反射激光和第二反射激光,所述第一反射激光和所述第二反射激光中的P偏振光没有偏折、S偏振光发生偏折,所述反射激光分为第一反射P偏振光、第一反射S偏振光、第二反射P偏振光、第二反射S偏振光从所述第一光口出射;

所述分光镜,还用于将射向所述分光镜的所述反射激光中的S偏振光发生偏转;

接收系统,用于接收所述分光镜偏转的所述反射激光。

2.根据权利要求1所述的激光雷达测距装置,其特征在于,还包括:半波片,所述半波片设置在所述分光镜和所述双折射晶体之间;

所述半波片用于将所述第一反射P偏振光转化成第一反射S’偏振光。

3.根据权利要求1所述的激光雷达测距装置,其特征在于,所述出射P偏振光的光斑面积不大于所述振镜的面积的一半。

4.根据权利要求3所述的激光雷达测距装置,其特征在于,所述出射P偏振光的光轴与所述振镜的中心轴之间存在第一偏移量,所述第一偏移量为所述出射P偏振光的光斑尺寸的一半。

5.根据权利要求2所述的激光雷达测距装置,其特征在于,所述半波片的面积不小于所述第一反射P偏振光的光斑面积。

6.根据权利要求2所述的激光雷达测距装置,其特征在于,所述半波片不接触所述第一光口侧的所述出射P偏振光。

7.根据权利要求1所述的激光雷达测距装置,其特征在于,所述第一反射激光和所述第二反射激光中的S偏振光偏折第二偏移量,所述第二偏移量等于所述出射P偏振光的光斑尺寸。

8.根据权利要求1所述的激光雷达测距装置,其特征在于,所述第一反射S偏振光和所述第二反射P偏振光从所述第一光口出射后,所述第一反射S偏振光的光轴和所述第二反射P偏振光的光轴重合。

9.根据权利要求8所述的激光雷达测距装置,其特征在于,所述出射P偏振光的光轴与从所述第一光口出射后的所述第一反射S偏振光的光轴同轴。

10.根据权利要求2所述的激光雷达测距装置,其特征在于,还包括:反射镜,所述反射镜用于将所述分光镜偏转的所述反射激光反射后射向所述接收系统。

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