[发明专利]一种点亮夹具及大视角光学测试装置

说明书

本发明涉及显示技术领域，公开了一种点亮夹具及大视角光学测试装置，该点亮夹具包括：载板，载板的一侧面形成承载面，承载面上包括放置区；安装于承载面上的多个探针组件，多个探针组件沿放置区周边分布，每个探针组件包括一端安装于承载面的弹片、以及安装于承载面且与弹片对应的导电柱，每个探针组件中，弹片可绕垂直于承载面的一轴线转动地安装于承载面，导电柱的轴线与承载面垂直；与各探针组件中的弹片和导电柱均电连接的供电装置。该点亮夹具中，载板上设置多个结构简单的探针组件对待测器件进行测试，可以对底发射器件进行测试也可以对顶发射器件进行测试，实用性较强，且探针组件占用空间小，可以有效提高对待测器件的视角测试效果。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种点亮夹具及大视角光学测试装置。

背景技术

近几年，由于OLED手机终端的市场的打开，客户对于OLED显示的要求越来越高，特别是大视角下的显示要求也越来越高，但目前的是测试设备市场对于研发阶段的器件结构视角测试的有效角度最大为±70°，而目前终端市场的要求已达到±80°，且对于研发阶段的器件结构视角测试的影响因素大多是在于测试用的夹具对器件结构视角测试的有效角度的影响，尤其是目前的测试用的夹具一般结构较为复杂，不仅影响对器件结构视角测试的有效角度，测试时使用也很不方便，故，为了缓解上述问题，现在亟需研究一种在研发阶段使用方便且可以提高对器件结构视角测试效果的夹具。

发明内容

本发明公开了一种点亮夹具及大视角光学测试装置，该点亮夹具中，载板上设置多个结构简单的探针组件对待测器件进行测试，既可以对底发射器件进行测试也可以对顶发射器件进行测试，实用性较强，且探针组件占用空间小，可以有效提高对待测器件的视角测试效果。

为达到上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种点亮夹具，包括：

用于承载待测器件的载板，所述载板的一侧面形成用于支撑所述待测器件的承载面，所述承载面上包括用于放置所述待测器件的放置区；

安装于所述载板的承载面上、且位于所述放置区周侧的多个探针组件，所述多个探针组件沿所述放置区的周边分布，每个所述探针组件包括一端安装于所述承载面的弹片、以及安装于所述承载面且与所述弹片对应的导电柱，且每个所述探针组件中，所述弹片可绕垂直于所述承载面的一轴线转动地安装于所述承载面，所述导电柱的轴线与所述承载面垂直；

与各所述探针组件中的弹片和导电柱均电连接且用于给每个所述探针组件供电的供电装置。

上述点亮夹具中，载板的顶面可以形成承载面，承载面上设置有一个放置区，待测器件可以放置在放置区内，多个探针组件沿放置区的周边分布并安装在载板上，其中，每个探针组件包括一个安装在载板上的导电的弹片和与弹片对应的导电柱，弹片或导电柱与放置在放置区的待测器件的电极端对应，弹片和导电柱分别与供电装置电连接，可以与电极端连接以给待测器件载入电信号，其中，为便于说明，以承载面背离载板的方向为上，即，待测器件放在载板上面，当待测器件为顶发射器件时，转动弹片以避让开放置区，将顶发射器件放置在放置区，可以搭在导电柱上，顶发射器件的电极端朝向上方，然后再次转动弹片，将弹片压在顶发射器件的电极端，则弹片与顶发射器件的电极端接触并电连接；当待测器件为底发射器件时，转动弹片以避让开放置区，将底发射器件放置在放置区，可以搭在导电柱上，底发射器件的电极端朝向下方，导电柱与底发射器件的电极端对应，所以，导电柱直接与底发射器件的电极端接触并电连接，则，上述点亮夹具皆可以用于测试顶发射器件也可以用于测试底发射器件，实用性强，且设置了多个待测组件，可以对待测器件进行多个测试点位测试，便于测试，另外，仅是在载板上设置弹片和导电柱用于与待测器件电连接给待测器件载入电信号，结构非常简单，使用方便，占用空间很小，几乎不会挡光，不会对待测器件发出的光产生检测影响，即，有助于对待测器件的大视角光学特性的检测，提高对待测器件的视角测试效果。