[发明专利]用于绘制土壤水分特征曲线的测定装置及其使用方法

权利要求书

1.一种用于绘制土壤水分特征曲线的测定装置，其特征在于，包括张力计、环刀、可拆卸支架、电子天平；所述张力计由探管、负压表、陶土头构成，所述环刀包括环刀和它的实盖，所述可拆卸支架由固定架、支撑杆和底座构成，所述负压表固定在固定架上，所述陶土头插入环刀内的饱和土样中，所述支撑杆的下端固定在底座上，上端固定着固定架；所述底座及环刀置于电子天平上。

2.根据权利要求1所述的用于绘制土壤水分特征曲线的测定装置，其特征在于，所述的探管长40cm，负压表量程0--0.1Mpa，陶土头长6cm，环刀内径10cm，高8cm，固定架和支撑杆3-2可拆卸，固定架长和宽为10cm，厚5cm，中间有凹槽卡住负压表。

3.权利要求1所述的用于绘制土壤水分特征曲线的测定装置的使用方法，包括如下步骤：

（1）测定装置基础数据 设定取土环刀和实盖的质量为M，体积为V，埋入环刀的部分探管和陶土头的体积记V1，装满水的张力计与可拆卸支架组装后，称得总质量为M1；

（2）组装测定装置 环刀取土后使土样吸水饱和，用小取土器把环刀中心的土样钻一个与陶土头直径相同的孔，将负压表卡入固定架的凹槽内，将陶土头插入环刀的土样中，再用取出的土加水混合制成泥浆灌入缝隙中，防止陶土头与土样接触不紧密，待测系统组装完成后，电子天平测得的质量为M2；

（3）实验数据记录 每天同一时间记录一次张力计负压表数值，第一天为P1，第二天为P2，第二天为P3...；记录电子天平的读数：第一天为M2_A, 第二天为M2_B, 第三天为M2_C...；记录探管内与满水状态下相差的水量：第一天为M3_A,第二天为M3_B，第三天为M3_C...直到负压表达到-0.08MPa；经过8-12天的记录后，将环刀中的陶土头取出，将陶土头带出的土样刮入环刀，并用少量的水冲洗，再将带有湿土的环刀放入烘箱，在105℃条件下使土壤脱水12h，然后称得质量为M4；

（4）计算逐日体积含水率 一般水的密度为1 g/cm³，因而以上测得的土壤质量含水量即为对应的土壤水分体积数，通过以上参数可得出每天的土壤体积含水率分别为：

第一天土壤体积含水率为:ω1=[（M2_A-M1-M4+M3_A）/（V-V1）]*100%；

第二天土壤体积含水率为:ω2=[（M2_B-M1-M4+M3_B）/（V-V1）]*100%；

之后每天的土壤含水率以此类推；

（5）依据逐日的土壤体积含水率ω1，ω2，ω3…和张力计数值P1,P2,P3…，便可绘制土壤水分特征曲线。