[发明专利]密封面缺陷光学检测装置及方法在审

专利信息
申请号: 201910245770.5 申请日: 2019-03-28
公开(公告)号: CN109884083A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 王建涛 申请(专利权)人: 中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01M3/38
代理公司: 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314 代理人: 王少虹;高瑞
地址: 518000 广东省深圳市福田*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 密封条 密封圈 光学检测装置 密封槽 密封面 密封 发光腔室 感光探头 光源件 密封件 压紧体 发电机空冷器 第一表面 环形环绕 密封效果 探测腔室 贴合密封 相对两侧 上密封 探测腔 发电机 回装 冷器 容置 压紧 分隔 泄漏 外围 室内 检测 覆盖
【权利要求书】:

1.一种密封面缺陷光学检测装置,其特征在于,包括用于对应密封面上缺陷的位置压紧在密封面上的压紧体和密封件、光源件和感光探头;

所述压紧体包括相背的第一表面和第二表面;所述压紧体的第一表面上设有覆盖在所述缺陷上的凹槽和密封槽,所述密封槽呈环形环绕在所述凹槽的外围并与所述凹槽相连通;

所述密封件包括密封圈、连接在所述密封圈内侧并用于贴合密封在密封面的缺陷上的密封条;所述密封圈容置在所述密封槽内,所述密封条位于所述凹槽内,将所述凹槽分隔成位于所述密封条相对两侧的发光腔室和探测腔室;所述光源件和感光探头分别设置在所述发光腔室和探测腔室内,通过所述感光探头在所述探测腔室内对光的探测判断是否有光从所述发光腔室通过所述密封面上的缺陷穿透至所述探测腔室。

2.根据权利要求1所述的密封面缺陷光学检测装置,其特征在于,所述密封件的厚度大于所述密封槽的深度,使得所述密封圈和密封条分别凸出所述压紧体的第一表面。

3.根据权利要求1所述的密封面缺陷光学检测装置,其特征在于,所述凹槽为腰形槽。

4.根据权利要求1所述的密封面缺陷光学检测装置,其特征在于,所述压紧体的第二表面上设有把手。

5.根据权利要求1所述的密封面缺陷光学检测装置,其特征在于,所述密封面缺陷光学检测装置还包括与所述感光探头电连接的控制单元,所述感光探头将探测到的信号发送至所述控制单元;或者,所述密封面缺陷光学检测装置还包括与所述感光探头电连接的光强度表。

6.根据权利要求1所述的密封面缺陷光学检测装置,其特征在于,所述密封面缺陷光学检测装置还包括将所述压紧体压紧在所述密封面上的固定组件。

7.根据权利要求6所述的密封面缺陷光学检测装置,其特征在于,所述固定组件包括至少一个固定座;所述固定座包括设置在所述压紧体第二表面上的第一固定板、连接所述第一固定板并配合在所述压紧体侧面的第二固定板、以及穿设在所述第一固定板上并抵紧所述压紧体第二表面的螺杆组件。

8.根据权利要求1-7任一项所述的密封面缺陷光学检测装置,其特征在于,所述密封面为发电机氢冷器、发电机空冷器、发电机人孔门、发电机冷却水管道、汽车发动机气门室盖或发电机出线套管上用于实现气体或液体密封的密封面。

9.一种密封面缺陷光学检测方法,其特征在于,采用权利要求1-8任一项所述的密封面缺陷光学检测装置,所述密封面缺陷光学检测方法包括以下步骤:

S1、将装有密封件的压紧体对应密封面上的缺陷位置压紧在密封面上;

所述密封件的密封条压紧在所述缺陷上;

S2、打开发光腔室内的光源件,感光探头在探测腔室内对进行探测;

S3、获取所述感光探头的探测结果,判断是否有光从所述发光腔室通过所述密封面上的缺陷穿透至所述探测腔室。

10.根据权利要求9所述的密封面缺陷光学检测方法,其特征在于,步骤S3中,通过探测到的光强度进行判断;若光强度数值为0,说明密封条对缺陷的密封效果好,所述密封面上的缺陷不需处理;若光强度数值不为0,说明所述密封面上的缺陷会影响密封条回装后的密封效果,缺陷需要处理。

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