[发明专利]基于高光谱技术的绝缘子污层电导检测方法

权利要求书

1.基于高光谱技术的绝缘子污层电导检测方法，其特征在于，包括：

拆取待测区域输配电系统中的若干个绝缘子，测量所述绝缘子在不同潮湿程度下的污层电导；

利用高光谱成像仪拍摄所述绝缘子，得到所述绝缘子在不同污层电导情况下的高光谱图像；

对所述高光谱图像进行黑白校正、平滑去噪、多元散射校正，得到多元散射校正后的谱线；

利用连续投影算法对所述谱线进行特征波段提取；

将提取的特征波段数据作为训练数据，采用支持向量机构建绝缘子污层电导等级判别模型；

获取待测污秽绝缘子的特征波段数据；

根据所述绝缘子污层电导等级判别模型对所述待测污秽绝缘子的特征波段数据进行等级判别，完成绝缘子污层电导检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量所述绝缘子在不同潮湿程度下的污层电导的步骤包括：

利用人工雾室加湿绝缘子，将两个平行的块状电极置于所述绝缘子的表面，电极间距为2cm，在电极两端加上320V的直流电压，利用示波器测得此时回路的电流IR，得到该绝缘子表面测量区域的污层电导G，G＝IR/320V。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测污秽绝缘子的特征波段数据的步骤包括：

用高光谱成像仪对输配电系统运行中的待测绝缘子进行拍摄，得到待测绝缘子的高光谱图像；

对所述待测绝缘子的高光谱图像进行黑白校正、多元散射校正、平滑去噪，提取特征波段，得到所述待测污秽绝缘子的特征波段数据。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述黑白校正的步骤，包括：

用高光谱成像仪对标准白板进行拍摄得到标准白板的反射图像W，W＝[w₁,w₂,w₃…w_n…w_N]，其中，w_n为标准白板的反射图像中第n个波段下的反射率，N为提取标准白板的反射图像的波段总个数；

用高光谱成像仪对标准黑板进行拍摄得到标准黑板的反射图像D，D＝[d₁,d₂,d₃…d_n…d_N]，d_n为标准黑板的反射图像中第n个波段下的反射率；

将污层电导G_i的高光谱图像记为X_0i,X_0i＝[x_0i1,x_0i2,x_0i3…x_0in…x_0iN]，x_0in为污层电导G_i的高光谱图像中第n个波段下的反射率，N为提取的高光谱谱线的波段总个数；

由下式得到表面污层电导G_i的校正后高光谱图像X’_i，

X’_i＝[x’_i,1,x’_i,2,x’_i,3…x’_i,n…x’_i,N]；其中，x’_i,n为污层电导G_i的校正后高光谱图像中第n个波段下的反射率。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述多元散射校正的步骤，包括：

根据污层电导G_i的校正后高光谱图像中第n个波段下的反射率x’_i,n，计算出所有校正后高光谱图像中第n个波段下平均反射率

将污层电导G_i的校正后高光谱图像X’i中所有波段下的反射率x′_i，n与校正后高光谱图像中对应的波段下的平均反射率进行一元线性回归拟合，得到污层电导Gi的在各波段n下的反射率线性回归值关系式，计算得到多元散射校正后的谱线