[发明专利]电路板缺陷检测方法、装置及设备

权利要求书

1.一种电路板缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取被测电路板的拍摄图像；

提取所述拍摄图像的多通道图像特征，并根据预设算法计算所述多通道图像特征之间的相关性；

根据所述相关性计算所述多通道图像特征中每个通道的图像特征对应的权重值，根据所述权重值对所述多通道图像特征进行调整获取多通道调整图像特征；

将所述多通道调整图像特征输入预设的图像语义识别模型，获取缺陷像素单元和与所述缺陷像素单元对应的缺陷类别标识；

根据所述缺陷像素单元和与所述缺陷像素单元对应的缺陷类别标识对所述电路板进行缺陷检测。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在将所述多通道调整图像特征输入预设的图像语义识别模型之前，还包括：

获取样本图像，其中，所述样本图像存在标注区域，所述标注区域内展示的电路器件存在缺陷；

根据所述标注区域内展示的电路器件的缺陷类别，对所述样本图像进行标注；

采用经过标注的所述样本图像对所述图像语义识别模型进行训练。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述采用经过标注的所述样本图像对所述图像语义识别模型进行训练包括：

获取所述图像语义识别模型输出的与所述样本图像对应的测试缺陷像素单元和与所述测试缺陷像素单元对应的测试缺陷类别标识；

根据损失函数对所述标注区域、所述缺陷类别、所述测试缺陷像素单元和所述测试缺陷类别标识计算，获取所述图像语义识别模型的损失值；

根据所述损失值对所述图像语义识别模型的模型参数进行调整，以使调整后的所述图像语义识别模型的损失值小于预设阈值。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述每个通道的图像特征为N维图像特征，其中，所述N为大于1的正整数，所述提取所述拍摄图像的多通道图像特征，并根据预设算法计算所述多通道图像特征之间的相关性，包括：

将所述每个通道的图像特征对应的N维图像特征输入预设的挤压模型，获取与所述每个通道的图像特征对应的一维图像特征；

根据预设计算模型计算与所述多通道图像特征对应的多个所述一维图像特征之间的相关值。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述相关性计算所述多通道图像特征中每个通道的图像特征对应的权重值，根据所述权重值对所述多通道图像特征进行调整获取多通道调整图像特征，包括：

根据所述相关值确定每个所述一维图像特征的权重；

根据所述权重对所述每个通道的图像特征对应的N维图像特征进行加权处理，获取N维的所述多通道调整图像特征。

6.一种电路板缺陷检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取被测电路板的拍摄图像；

提取模块，用于提取所述拍摄图像的多通道图像特征，并根据预设算法计算所述多通道图像特征之间的相关性；

调整模块，用于根据所述相关性计算所述多通道图像特征中每个通道的图像特征对应的权重值，根据所述权重值对所述多通道图像特征进行调整获取多通道调整图像特征；

识别模块，用于将所述多通道调整图像特征输入预设的图像语义识别模型，获取缺陷像素单元和与所述缺陷像素单元对应的缺陷类别标识；

检测模块，用于根据所述缺陷像素单元和与所述缺陷像素单元对应的缺陷类别标识对所述电路板进行缺陷检测。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：

训练模块，用于获取样本图像，其中，所述样本图像存在标注区域，所述标注区域内展示的电路器件存在缺陷；

根据所述标注区域内展示的电路器件的缺陷类别，对所述样本图像进行标注；

采用经过标注的所述样本图像对所述图像语义识别模型进行训练。