[发明专利]一种蓝宝石衬底片抛光方法在审
申请号: | 201910248636.0 | 申请日: | 2019-03-29 |
公开(公告)号: | CN109807695A | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 徐永亮;王辽阔;施海斌;柳瑞森;吴鲁;周波 | 申请(专利权)人: | 苏州恒嘉晶体材料有限公司 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00;C09G1/02 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 215699 江苏省苏州市张*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 陶瓷盘 晶片 蓝宝石 抛光 衬底片 抛光液 上盘 抛光布 抛光机 氧化铝 冷却 清洗 表面平整度 抛光布表面 厚度差异 晶片固定 抛光过程 体积配比 同步转动 同向转动 下盘表面 下盘盘面 向下放置 冲水 蜡机 粒径 毛刷 取下 贴上 下盘 下压 压紧 分组 申请 | ||
本申请提供了一种蓝宝石衬底片抛光方法,将铜抛后清洗干净的蓝宝石衬底片按照厚度分组,同一组内晶片厚度差异在10μm以内;提供一个陶瓷盘,陶瓷盘表面平整度在3μm以内,用贴蜡机将一组晶片均匀贴在距陶瓷盘边缘1cm的表面上,蜡冷却后晶片固定在陶瓷盘上;抛光机下盘表面贴上suba600或suba800的抛光布,将陶瓷盘贴有晶片的一面向下放置在抛光布上,下压上盘压紧陶瓷盘并使之跟随上盘同步转动,下盘与上盘同向转动,同时抛光布表面喷上粒径大小为80~350nm的的氧化铝抛光液,氧化铝抛光液与水的体积配比为1:6到1:15;抛光过程中,可以通过对抛光液冷却带走热量使抛光机下盘盘面温度控制在30~40℃;抛光结束后取下陶瓷盘,用毛刷对晶片进行冲水清洗。
技术领域
本发明涉及一种适用于蓝宝石衬底片抛光技术领域,尤其涉及一种蓝宝石衬底片抛光方法。
背景技术
目前,蓝宝石抛光主要采用二氧化硅基抛光液,二氧化硅基的抛光液去除速率低,易结晶难清洗,对环境和温度要求严格,加工条件苛刻,导致蓝宝石晶片生产效率,生产成本高。随着LED市场的迅速发展,市场迫切需要低成本高效率高质量蓝宝石抛光技术降低单位成本。
随着高亮度LED在照明工程领域需求量的急剧增长,带动了国内蓝宝石衬底材料制造产业的发展。蓝宝石晶体具有优异的力学性能、良好的热学性能,是半导体GaN/Al2O3发光二极管、大规模集成电路SOI和SOS及超导纳米结构薄膜等理想的衬底材料。由于蓝宝石硬度高、脆性大给材料加工尤其是表面纳米级抛光带来很多困难。为应对光电技术的发展对蓝宝石衬底材料表面提出的超光滑、无损伤的要求,必须对蓝宝石衬底进行精细抛光。
蓝宝石衬底片抛光主要有机械抛光、化学抛光和化学机械抛光。机械抛光精细度低,难以实现纳米级抛光;化学抛光可实现纳米级抛光,但不能实现全局平面化。化学机械抛光是化学腐蚀作用和机械去除作用相结合的抛光技术,是将晶片施加一定压力均匀压在抛光布上,晶片或抛光布相对机械运动,抛光液在晶片和抛光布之间形成润滑层并与晶片表面发生化学反应形成软质腐蚀层,机械摩擦又将腐蚀层去除从而达到表面全局平坦化的一种抛光方法。
蓝宝石衬底片抛光采用化学机械抛光,主要使用二氧化硅基抛光液,二氧化硅抛光液是以高纯度的硅粉或者水玻璃为原料,经过特殊工艺生产的一种高纯度金属离子型抛光产品。二氧化硅的硬度较蓝宝石硬度低,在蓝宝石衬底片的抛光中,材料去除率相对低,去除速率不高。另二氧化硅抛光液形成胶体,附着在衬底片表面,清洁难度较大。
综上所述,目前蓝宝石抛光普遍采用二氧化硅基抛光液配合相应的抛光技术,使用化学腐蚀和机械力去除原理,去除速率低,仅为2~4μm/h,去除约6μm的损伤层时间较长,易受到环境和温度的影响产生新的划伤。
发明内容
本申请提供了一种蓝宝石衬底片抛光方法,以解决普遍采用二氧化硅基抛光液配合相应的抛光技术,使用化学腐蚀和机械力去除原理,去除速率低的问题;通过使用氧化铝抛光液替代氧化硅抛光液配合相应的工艺,去除速率可以大幅提升,不容易产生新的损伤,加工条件宽松,容易控制。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:
1.一种蓝宝石衬底片抛光方法,其特征在于,所述的方法具体包括以下步骤:
预处理:将铜抛后清洗干净的蓝宝石衬底片按照厚度分组,同一组内晶片厚度差异在10μm以内;
贴蜡阶段:提供一个陶瓷盘,陶瓷盘表面平整度在3μm以内,用贴蜡机将一组晶片均匀贴在距陶瓷盘边缘1cm的表面上,蜡冷却后晶片固定在陶瓷盘上;使用三角量表以陶瓷盘表面为基准面校零;选一片晶片标记作为起始片,测量晶片中点数据,按此方法,以逆时针将同一组全部测完,并记录下数据;
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