[发明专利]一种阵列式发光元件质量检测系统及其使用方法

说明书

本发明旨在提供一种阵列式发光元件质量检测系统及其使用方法，可实现对阵列式发光元件进行点亮并自动计算合格光源数量，发光点尺寸及坏点数量，同时将坏点位置能在测试界面上显示出来。本发明包括底板、工控机、旋转机构、载具、光学处理仪器及点亮装置，所述工控机藏于所述底板的底部，所述载具可对称固定放置在所述旋转机构的两端，所述光学处理仪器设置在所述旋转机构的上方，所述点亮装置配合设置在所述光学处理仪器的下方，所述旋转机构、所述载具、所述光学处理仪器及所述点亮装置均与所述工控机电信号连接。本发明应用于光学元件测试的技术领域。

技术领域

本发明涉及一种光学元件测试领域，特别涉及一种阵列式发光元件质量检测系统及其使用方法。

背景技术

随着发光元件应用场合的不断扩大，对其需求量日益增多，以至于对其质量测试需求不断增加，目前国内较多的是对于单个发光元件的检测，并且一般为手动或半自动测试，无法满足大批量的发光元件测试，而且对于用众多芯片排布成的阵列式元件发光没有统一性，发光角度不大，因此是无法进行测试的，其缺陷包括以下几点：1、目前对光源检测的设备主要为单次单个元件进行检测，无法同时对多光源进行检测，并自动计算出符合要求的光源数量及坏点位置；2、利用检测通过发光元件的电流大小在不在预定范围内来判断多个光源中是否有发光元件损坏是目前较多的检测方式，但此种方式检测结果不够直观，同时可扩展性较小；3、现有发光元件测试设备具有结构复杂，自动化程度较低，不适用于大批量的光学元件测试的缺点。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种阵列式发光元件质量检测系统，可实现对阵列式发光元件进行点亮并自动计算合格光源数量，发光点尺寸及坏点数量，同时将坏点位置能在测试界面上显示出来。

本发明所采用的技术方案是：本发明包括底板、工控机、旋转机构、载具、光学处理仪器及点亮装置，所述工控机藏于所述底板的底部，所述载具可对称固定放置在所述旋转机构的两端，所述光学处理仪器设置在所述旋转机构的上方，所述点亮装置配合设置在所述光学处理仪器的下方，所述旋转机构、所述载具、所述光学处理仪器及所述点亮装置均与所述工控机电信号连接。

由上述方案可见，待测元件放置在所述载具上，由所述旋转机构实现将所述载具旋转至所述光学处理仪器的下方，所述点亮装置上升与所述载具上的待测元件相接触并点亮待测元件，由所述光学处理仪器所记录拍摄，最终将相关数据传输到所述工控机上，所以，本发明可通过点亮待测元件并自动计算合格光源数量，发光点尺寸及坏点数量，同时将坏点位置能在测试界面上显示出来，其检测效率高且检测效果好。

一个优选方案是，所述工控机通过驱动板与所述点亮装置电信号连接，所述工控机通过TEC驱动板与所述载具电信号连接，所述工控机通过源表与所述光学处理仪器电信号连接。

一个优选方案是，所述旋转机构包括旋转动力组件及与所述旋转动力组件传动连接的承载板，所述承载板的两端均设有凹槽和定位机构，所述定位机构和所述凹槽均与所述载具相配合设置。

由上述方案可见，所述旋转机构具有两个工位，即两端设置的凹槽，用于放置所述载具；所述定位机构具有所述载具放置后的定位功能及旋转到位定位功能；当放置完第一个所述载具并将其旋转到位后，此时在另一个工位可放置一个新的所述载具，可实现待测元件的快速交替，保证测试连续性，提高测试效率；同时，先将待测元件放置于所述载具上，再将其放置在所述旋转机构上，对成像区域来说有双重的定位保证，确保批量测试产品的一致性。

一个优选方案是，所述旋转动力组件采用气缸、步进电机或伺服电机中的一种或多种组合。

一个优选方案是，所述载具上设有放置槽及配合设置在所述放置槽上的定位组件。

由上述方案可见，待测元件放在所述放置槽上，所述定位组件可保证每次放置的待测元件位置准确性。