[发明专利]一种图像检测的方法及装置

说明书

本申请提供了一种图像检测的方法及装置，涉及图像处理的技术领域，包括获取待检测图像，基于所述待检测图像、以及训练好的图像修补模型，确定对所述待检测图像修补后的修补图像，针对所述修补图像和所述待检测图像中处于同一位置处的每两个像素点，分别计算每两个像素点的像素值之间的差值，得到所述修补图像和所述待检测图像的差值图像，基于所述差值图像中各像素点的像素值，确定所述差值图像中的差异位置区域，若所述差值图像中的差异位置区域的面积大于预设面积，则确定所述待检测图像为缺陷图像，解决了通过同一模型对不同物体进行图像缺陷检测的技术问题，提高了对图像检测的效率。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其是涉及一种图像检测的方法及装置。

背景技术

针对物体表面是否平整或者是否有缺陷的判断，现有技术一般采用图像分割方法或者图像识别方法，对物体表面进行检测后得到判断结果，其中缺陷可能是物体表面有缺陷或者物体表面有突起。

但是在应用图像分割方法或者图像识别方法的过程中，需要大量的缺陷样本输入至模型中进行模型训练，而在实际应用中，对于一些特殊领域，如钢轨表面的检测、接触网表面的检测等，很难收集到大量的、具有不同缺陷区域的缺陷样本。并且因为不同类型的物体出现缺陷的情况不同，很难利用同一个模型对不同类别的物体进行缺陷检测，例如，在对钢轨表面进行缺陷图像检测时，需要预先利用大量钢轨表面出现缺陷的样本图像对模型进行训练，而训练得到的模型不能应用在对接触网表面的缺陷图像检测上，这就导致对于物体缺陷图像检测的处理效率较低。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种图像检测的方法及装置，以提高图像检测的效率。

第一方面，本申请实施例提供了一种图像检测的方法，包括：

获取待检测图像；

基于所述待检测图像、以及训练好的图像修补模型，确定对所述待检测图像修补后的修补图像；

针对所述修补图像和所述待检测图像中处于同一位置处的每两个像素点，分别计算每两个像素点的像素值之间的差值，得到所述修补图像和所述待检测图像的差值图像；

基于所述差值图像中各像素点的像素值，确定所述差值图像中的差异位置区域；

若所述差值图像中的差异位置区域的面积大于预设面积，则确定所述待检测图像为缺陷图像。

本申请的一实施例中，所述基于所述差值图像中各像素点的像素值，确定所述差值图像中的差异位置区域，包括：

遍历所述差值图像中每个像素点，确定以遍历到的像素点为中心的第一图像区域，确定所述第一图像区域中其它像素点与所述遍历到的像素点之间的像素值差值，若所述第一图像区域对应的像素值差值超出第一设定值，则将所述第一图像区域确定为所述差异位置区域。

本申请的一实施例中，所述基于所述差值图像中各像素点的像素值，确定所述差值图像中的差异位置区域，包括：

确定所述差值图像中像素点的像素值超过第二设定值的第二图像区域，将所述第二图像区域确定为所述差异位置区域。

本申请的一实施例中，根据以下方式训练得到所述图像修补模型：

获取训练样本集合，所述训练样本集合包含多组训练样本，其中，每组训练样本中包括样本图像和所述样本图像对应的标准图像，所述样本图像包含图像缺陷区域，所述标准图像中标记有对应的样本图像的参考图像缺陷区域；

利用所述训练样本集合对待训练的基础图像修补模型进行训练，其中，训练过程包括：