[发明专利]一种光纤故障检测方法、装置、设备及计算机存储介质

说明书

本发明公开了一种光纤故障检测方法、装置、设备及计算机存储介质，涉及光通信技术领域，以解决现有技术中光纤故障检测效率低的问题。该方法包括：在检测到待检测光纤出现故障时，在光纤环路的一端，沿着所述光纤环路的第一方向，测量第一事件点和第二事件点之间的分段光纤的正向损耗值；在所述光纤环路的所述一端，沿着所述光纤环路的第二方向，测量所述分段光纤的反向损耗值；根据所述分段光纤的正向损耗值以及所述分段光纤的反向损耗值，确定是否存在光纤混接的情况；本发明实施例可提高光纤故障检测的效率。

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，尤其涉及一种光纤故障检测方法、装置、设备及计算机存储介质。

背景技术

光纤通信骨干网络正面向大容量、长距离演进。相比于普通单模光纤G.652光纤，超低损耗大有效面积G.654.E光纤显著提升无电中继传输距离，有助于超100G相干波分技术在骨干网中的应用。然而，试点和实验室测试结果显示，G.654.E光纤中断后，若采用G.652光纤连接两个断点，即G.654.E与G.652光纤混熔熔接，将导致单点熔接损耗过大，从而限制、抵消了G.654.E光纤性能优势。现有骨干光缆网络以G.652光纤为主，已试点铺设基于G.654.E光纤的光缆链路，因此，对于可能存在的G.654.E与G.652光纤混熔熔接，需及时发现并整改。

现有的光纤损耗测试方法主要包括光功率计和光时域反射仪。其中，光时域反射仪是基于光纤瑞利散射和菲涅尔反射原理制作的精密仪表，广泛应用于光缆建设维护。光时域反射仪可以同时测量光纤线路损耗和熔接损耗，精确度高。

但是，光时域反射仪需要对光纤进行双向测试。对于骨干光纤网络，2个OA站点间距通常在80km左右。若使用同1台光时域反射仪，则需要在光纤链路的两端分别进行正向/反向测试，人员往返测试距离长、时间长。仪表存储双向测试数据，通过软件提取双向测试数据后，再经人工整理分析，得到实际损耗值。一旦熔接不合格，需要重新返回现场施工，人工成本更高、业务受影响时间更长。

由此可见，现有技术中，光纤故障检测的效率较低。

发明内容

本发明实施例提供一种光纤故障检测方法、装置、设备及计算机存储介质，以解决现有技术中光纤故障检测效率低的问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种光纤故障检测方法，包括：

在检测到待检测光纤出现故障时，在光纤环路的一端，沿着所述光纤环路的第一方向，测量第一事件点和第二事件点之间的分段光纤的正向损耗值；

在所述光纤环路的所述一端，沿着所述光纤环路的第二方向，测量所述分段光纤的反向损耗值；

根据所述分段光纤的正向损耗值以及所述分段光纤的反向损耗值，确定是否存在光纤混接的情况；

其中，所述光纤环路，是利用故障点所在的第一光路和与所述第一光路同源同宿的第二光路形成的；

所述第一事件点和所述第二事件点在所述光纤环路上分别位于所述故障点的两侧，所述第一方向和所述第二方向为所述光纤环路的两个相反的方向。

其中，所述测量第一事件点和第二事件点之间的分段光纤的正向损耗值，包括：

在光纤环路的一端，沿着所述光纤环路的第一方向，测量所述第一事件点的正向损耗值、所述第二事件点的正向损耗值；

基于所述第一事件点的正向损耗值和所述第二事件点的正向损耗值，确定所述分段光纤的正向损耗值；

所述在所述光纤环路的所述一端，沿着所述光纤环路的第二方向，测量所述分段光纤的反向损耗值，包括：

在光纤环路的一端，沿着所述光纤环路的第二方向，测量所述第一事件点的反向损耗值、所述第二事件点的反向损耗值；