[发明专利]电机垂直度的检测装置及检测方法有效
申请号: | 201910255465.4 | 申请日: | 2019-04-01 |
公开(公告)号: | CN110091070B | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 郑金轮;白震;王正伟;魏劲松 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电机 垂直 检测 装置 方法 | ||
1.一种利用电机垂直度的检测装置进行电机垂直度检测的方法,该电机垂直度的检测装置,包括激光器(1)、第一扩束准直器(2)、二维扫描振镜(3)、第一半透半反镜片(4)、第二半透半反镜片(5)、手动调焦装置(6)、显微物镜(7)、辅助测试样品(8)、第二扩束准直器(10)、白光照明光源(11)、聚焦镜片(12)、CCD探测器(13)、第一控制器(14)、计算机(15)和第二控制器(16);所述的辅助测试样品(8)放置在待测电机的二维平台(9)上;所述激光器(1)发出的光经过所述第一扩束准直器(2)调整后变为近似平行光,该近似平行光先经过所述二维扫描振镜(3),再依次经过所述第一半透半反镜片(4)和第二半透半反镜片(5)透射后入射到所述显微物镜(7),通过调节所述的手动调焦装置(6)将入射光束聚焦到辅助测试样品(8)的表面,形成激光光斑;所述白光照明光源(11)发出白色照明光束,该光束经第二扩束准直器(10)调整后变为近似平行光后入射到第一半透半反镜片(4)被分为第一透射光束和第一反射光束,其中第一反射光束经过第二半透半反镜片(5)后被分束成为第二透射光束和第二反射光束,第二反射光束入射到显微物镜(7),然后照在辅助测试样品(8)的表面,形成照明光斑;所述的激光光斑和照明光斑反射经所述的显微物镜(7)入射到第二半透半反镜片(5),经该第二半透半反镜片(5)分束为第三透射光束和第三反射光束,所述的第三反射光束经过聚焦镜片(12)聚焦后入射到CCD探测器(13)感光元件上,该CCD探测器(13)与所述计算机(15)通讯;所述的待测电机的二维平台(9)经第一控制器(14)与所述的计算机(15)相连,所述的二维扫描振镜(3)经第二控制器(16)与所述计算机(15)相连;其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤1)在基底上镀上一层金属薄膜作为辅助测试样品(8);
步骤2)在第二控制器(16)设置二维扫描振镜(3)在X轴方向和Y轴方向的扫描电压,使二维扫描振镜(3)能够在一个扫描周期内扫描出一个正方形图案,该正方形边长为A;
步骤3)在第一控制器(14)设置待测电机的二维平台(9)的移动方式,使待测电机的二维平台(9)先沿待测电机X轴方向以距离A步进式地移动一段距离x,再返回起始位置并沿Y轴方向移动距离A,然后继续沿待测电机X轴方向以距离A步进式地移动一段距离x,之后返回该行的起始位置,重复以上运动若干次;
步骤4)打开激光器(1)、二维扫描振镜(3)和待测电机的二维平台(9),激光器(1)不间断地发出连续脉冲,二维扫描振镜(3)不间断扫描出正方形图案,待测电机的二维平台(9)按步骤3)设定的移动方式运动,同时设置同步扫描方式,即当二维扫描振镜刻写图案时,电机正好处于步进式运动的间歇期,等图案刻写完毕后再继续运动;
图形刻写完毕后,关闭激光器(1)、二维扫描振镜(3)和待测电机的二维平台(9);
步骤5)观察CCD探测器(13)探测到的刻写图形,当看到的正方形图案的一边与电机X轴方向有存在夹角,则进入步骤6);否则进入步骤7);
步骤6)在第二控制器(16)重新设置二维扫描振镜(3)在X轴方向和Y轴方向的扫描电压,使得扫描出的正方形图案发生旋转,并返回步骤5);
步骤7)在第一控制器微调待测电机的二维平台(9)的移动参数,使待测电机的二维平台(9)沿待测电机X轴方向的步进距离A改为A±δ,沿Y轴方向移动距离A改为A±ε,其中δ和ε的值能够使得刻写出的相邻正方形的相邻边基本重合;
步骤8)计算电机垂直度θ,公式如下:
θ=90-arctan(a/b)
其中θ的物理意义就是待测电机X轴和Y轴的夹角(角度制),a为第n行正方形的X轴方向的初始坐标和第1行正方形的X轴方向的初始坐标之差,b为n行正方形的行高。
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