[发明专利]光扫描装置和激光雷达在审
| 申请号： | 201910255918.3 | 申请日： | 2019-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN110045498A | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 魏威;谭斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市速腾聚创科技有限公司 |
| 主分类号： | G02B26/10 | 分类号： | G02B26/10;G02B26/08;G01S7/481 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 陈小娜;景怀宇 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 反射镜 激光雷达 基底 消光 光扫描装置 入射光线 散射光 反射镜设置 探测盲区 杂散光 反射 探测 申请 | ||
1.一种光扫描装置，其特征在于，所述装置包括：反射镜、反射镜基底和消光件；所述反射镜安装在所述反射镜基底上，所述消光件置于所述反射镜基底前方；
所述反射镜,用于对入射光线进行反射；
所述消光件,用于减少所述入射光线在所述反射镜基底上产生的散射光。
2.根据权利要求1所述的光扫描装置，其特征在于，所述消光件为光阑，所述光阑设置在所述反射镜的正面，所述光阑的通光孔对准所述反射镜。
3.根据权利要求2所述的光扫描装置，其特征在于，所述光阑的通光孔的面积大于或等于所述反射镜的面积。
4.根据权利要求3所述的光扫描装置，其特征在于，所述光阑按照预先的设定高度设置在所述反射镜的正面；所述设定高度是根据所述入射光线的最大入射角、以及所述光阑与所述反射镜的半径差所确定的高度。
5.根据权利要求2所述的光扫描装置，其特征在于，所述光阑的表面散射系数低于所述反射镜基底正面的散射系数。
6.根据权利要求5所述的光扫描装置，其特征在于，所述光阑上附着吸光膜或反光膜。
7.根据权利要求2至6任一项所述的光扫描装置，其特征在于，所述光阑的厚度小于预设的厚度阈值，所述厚度阈值通过不遮挡所述反射镜反射的入射光线确定。
8.根据权利要求1任一项所述的光扫描装置，其特征在于，所述反射镜基底的正面附有消光层，所述消光层用于减少所述反射镜基底对所述入射光线的散射。
9.根据权利要求8所述的光扫描装置，其特征在于，所述消光层为反光层或吸光层。
10.一种激光雷达，其特征在于，所述激光雷达包括如权利要求1至9任一项所述的光扫描装置。
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