[发明专利]散射线校正方法及终端

权利要求书

1.一种散射线校正方法，其特征在于，包括：

分别获取实际散射核和仿真散射核；

根据所述实际散射核和仿真散射核计算得到散射核；

获取原始图像分布；

根据所述原始图像分布和散射核计算得到散射线图像分布；

根据所述原始图像分布和散射线图像分布计算得到主射线图像分布；

所述获取实际散射核具体为：

使X射线经束光器后通过一圆孔区域，然后到达被照射物体，所述圆孔区域的半径范围为(0,1]mm，所述被照射物体为3～40cm厚度的水箱模体；

采集被照射物体下的圆孔图像；

获取所述圆孔图像中圆孔中心的一行像素值；

对所述一行像素值进行处理得到SPR曲线，SPR曲线为散射/主射线比例曲线；

通过最小二乘法对所述SPR曲线进行拟合，得到实际散射核；

所述获取仿真散射核具体为：

使X射线依次经滤波片和束光器后到达被照射物体，所述被照射物体为3～40cm厚度的水箱模体；

通过被照射物体的X射线经闪烁体探测器后转换为散射信号；

对所述散射信号进行处理得到SPR曲线；

通过最小二乘法对所述SPR曲线进行拟合，得到仿真散射核；

根据公式计算散射核，其中，h表示散射核，h_r表示实际散射核，h_s表示仿真散射核，a为指数因子，其取值范围为[0.5,1]。

2.根据权利要求1所述的散射线校正方法，其特征在于，当在X射线到达探测器之前采用滤线栅时，根据公式h(x,y)＝h(x,y)·k(y)对所述散射核进行加权处理，其中，(x,y)表示散射线分布的坐标，其坐标原点为X射线的中心在探测器的位置；

L表示与滤线栅的参数相关的经验值。

3.根据权利要求2所述的散射线校正方法，其特征在于，根据所述原始图像分布和散射核计算得到散射线图像分布具体为：

初始化散射线图像分布I_s及主射线图像分布I_p，使得I_s(x,y)＝0以及I_p(x,y)＝I(x,y)，其中，I(x,y)表示原始图像分布；

获取束光器区域；

将束光器区域的I_p置为0，利用迭代反卷积计算散射线图像分布I_s，I_s＝I_p*h，其中，*表示卷积符号，表示原散射线图像分布，λ为松弛系数，取值范围为[0,1]。

4.根据权利要求3所述的散射线校正方法，其特征在于，在利用迭代反卷积计算散射线图像分布时，将束光器区域外的原始图像置为0，并使用0扩展图像边界。

5.根据权利要求1所述的散射线校正方法，其特征在于，所述根据所述原始图像分布和散射线图像分布计算得到主射线图像分布具体为：将原始图像分布减去散射线图像分布得到所述主射线图像分布。

6.一种散射线校正终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

分别获取实际散射核和仿真散射核；

根据所述实际散射核和仿真散射核计算得到散射核；

获取原始图像分布；

根据所述原始图像分布和散射核计算得到散射线图像分布；

根据所述原始图像分布和散射线图像分布计算得到主射线图像分布；

所述获取实际散射核具体为：

使X射线经束光器后通过一圆孔区域，然后到达被照射物体，所述圆孔区域的半径范围为(0,1]mm，所述被照射物体为3～40cm厚度的水箱模体；

采集被照射物体下的圆孔图像；

获取所述圆孔图像中圆孔中心的一行像素值；

对所述一行像素值进行处理得到SPR曲线，SPR曲线为散射/主射线比例曲线；

通过最小二乘法对所述SPR曲线进行拟合，得到实际散射核；

所述获取仿真散射核具体为：

使X射线依次经滤波片和束光器后到达被照射物体，所述被照射物体为3～40cm厚度的水箱模体；

通过被照射物体的X射线经闪烁体探测器后转换为散射信号；

对所述散射信号进行处理得到SPR曲线；

通过最小二乘法对所述SPR曲线进行拟合，得到仿真散射核；

根据公式计算散射核，其中，h表示散射核，h_r表示实际散射核，h_s表示仿真散射核，a为指数因子，其取值范围为[0.5,1]。