[发明专利]用于冷却成像系统的系统和方法在审
申请号: | 201910260886.6 | 申请日: | 2019-04-02 |
公开(公告)号: | CN110351977A | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | G·R·瓦格纳;A·C·内森;M·J·伊万杰利斯特;C·A·史密斯;M·A·弗朗特拉 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | H05K7/20 | 分类号: | H05K7/20 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 汪骏飞;钱慰民 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像系统 歧管 喷嘴 歧管组件 冷却 冷却系统 相邻定位 返回 共用壁 组装 制造 | ||
公开了用于冷却成像系统的系统和方法。提供了用于成像系统的冷却系统的方法和系统。在一个实施例中,用于成像系统的歧管组件包括:由多个整体部分形成的进入歧管和返回歧管,所述进入歧管和返回歧管被彼此相邻定位并由共用壁分开;以及多个喷嘴,其中所述多个喷嘴中的每个喷嘴由所述多个整体部分中的相应部分形成。以这种方式,可以减少所述歧管组件的组装难度、费用和/或制造时间。
技术领域
本文公开的主题的实施例涉及成像系统,并且更具体地,涉及用于正电子发射计算机断层显像(PET)系统的冷却系统。
背景技术
正电子发射计算机断层显像(PET)系统生成代表患者体内的发射正电子的核素的分布的图像。当正电子通过湮灭与电子相互作用时,正电子-电子对的整个质量被转换成两个光子。光子沿着响应线(LOR)以相反的方向发射。湮灭光子由放置在响应线两侧上的以诸如检测器阵列或检测器环之类的配置的检测器来检测。检测器将入射光子转换成可以用于图像形成的有用的电信号。由此基于所获取的图像数据生成的图像包括湮灭光子检测信息。通常,这种PET系统可以与计算机断层扫描(CT)系统集成在一起以形成双模态成像系统(PET/CT成像系统)。
PET或PET/CT系统所包括的检测器通常是光电二极管阵列,诸如硅光电倍增管(SiPM),其检测来自闪烁晶体阵列的光脉冲。检测器通常安装在读出电子设备附近,以保持光电二极管的信号完整性。在操作中,读出电子设备产生可能影响光电二极管的操作的热量。因此,期望为检测器提供冷却。
发明内容
在一个实施例中,用于正电子发射计算机断层显像(PET)系统的歧管组件包括:由多个整体部分形成的进入歧管和返回歧管,所述进入歧管和返回歧管被彼此相邻定位并由共用壁分开;以及多个喷嘴,所述多个喷嘴中的每个喷嘴由多个整体部分中的相应部分形成。以这种方式,进入歧管、返回歧管、喷嘴和歧管组件的其他部件一起形成为多个整体部分,导致单独部件的数量减少。
应理解到,以上简要描述被提供用于以简化的形式介绍在具体实施方式中进一步描述的一些概念。这并不意味着识别所要求保护的主题的关键或必要特征,所要求保护的主题的范围由详细描述之后的权利要求唯一地限定。此外,所要求保护的主题不限于解决在上文中或在本公开的任一部分中所提及的任何缺点的实现。
附图说明
参考所附附图,通过阅读下列非限制性实施例的描述,将更好地理解本发明,其中:
图1示出了根据本公开的方面的正电子发射计算机断层显像(PET)成像系统的实施例的示意性表示。
图2示出了具有图1的PET成像系统的PET/计算机断层扫描(CT)成像系统的透视图。
图3示出了PET/CT成像系统所包括的冷却系统的示意图。
图4示出了用于PET/CT成像系统的冷却系统的冷却歧管的透视图。
图5示出了用于PET/CT成像系统的冷却歧管的整体部分,该整体部分由增材制造工艺形成。
图6示出了用于PET/CT成像系统的冷却歧管的侧视图,该冷却歧管包括由增材制造工艺形成的多个整体部分。
图7示出了耦接至用于PET/CT成像系统的冷却歧管的PET检测器组件的透视图,该冷却歧管包括由增材制造工艺形成的多个整体部分。
图8至图21示出了用于PET/CT成像系统的冷却歧管的各种部分的横截面图,该部分由增材制造工艺形成。
图22示出了用于生产用于PET/CT成像系统的冷却系统的歧管组件的方法的流程图,该歧管组件具有由增材制造工艺形成的多个整体部分。
图23至图25示出了通过增材制造工艺形成用于PET/CT成像系统的冷却系统的歧管组件的整体部分的各种步骤。
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