[发明专利]一种温度测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 201910261701.3 | 申请日： | 2019-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN109855750A | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 刘召军;刘弈镈;张珂;闫思吴 | 申请（专利权）人： | 深圳市思坦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/01 | 分类号： | G01K7/01 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区大浪街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 温度测量装置 电压检测电路 恒流电路 温度测量 测量 电连接 输出检测 电极 恒定的 | ||
1.一种温度测量装置，其特征在于，包括恒流电路、Micro-LED以及电压检测电路；
所述恒流电路与所述Micro-LED电连接，用于向所述Micro-LED输入恒定的第一电流，其中，所述第一电流小于所述Micro-LED发光时的电流阈值；
所述电压检测电路与所述Micro-LED电连接，用于测量所述Micro-LED的两个电极之间的电压，并输出检测温度。
2.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，所述电压检测电路包括电压放大子电路与电压检测子电路，所述电压放大子电路与所述Micro-LED电连接，用于放大所述Micro-LED的两个电极输出的电压；
所述电压检测子电路与所述电压放大子电路电连接，用于测量所述电压放大子电路输出电压，并输出检测温度。
3.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，包括多个Micro-LED串联。
4.根据权利要求3所述的温度测量装置，其特征在于，多个所述Micro-LED以阵列形状排列。
5.根据权利要求3所述的温度测量装置，其特征在于，所述恒流电路还用于向多个所述Micro-LED输入恒定的第二电流，以使多个所述Micro-LED发光。
6.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，所述Micro-LED包括：
衬底；
设置于所述衬底，并沿远离所述衬底方向依次层叠设置的n型层、有源层、p型层以及设置于所述n型层上的n型电极和设置于所述p型层上的p型电极。
7.根据权利要求6所述的温度测量装置，其特征在于，所述Micro-LED的p型层和n型层包括氮化镓基材料或砷化镓基材料；
所述有源层包括多个量子阱周期结构，每个所述量子阱周期结构包括层叠设置的氮化镓层与铟镓氮层。
8.一种温度测量方法，其特征在于，通过权利要求1～7任一所述的温度测量装置执行，该温度测量方法包括：
所述恒流电路向所述Micro-LED输入恒定的第一电流；
所述电压检测电路检测所述Micro-LED的两个电极之间的电压；
所述电压检测电路根据所述电压，输出检测温度；
其中，所述第一电流小于所述Micro-LED发光时的电流阈值。
9.根据权利要求8所述的温度测量方法，其特征在于，在所述恒流电路向所述Micro-LED输入恒定的第一电流之前，还包括：
在预设温度范围内，标定所述Micro-LED的两个电极之间的电压与温度的对应曲线。
10.根据权利要求8所述的温度测量方法，其特征在于，还包括：
所述恒流电路向所述Micro-LED输入恒定的第二电流，以使所述Micro-LED发光。
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