[发明专利]一种用氧化法测定弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法

说明书

本发明公开一种氧化法测定弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法，包括如下步骤：a将盘条切割成横向金相样；b对金相样进行打磨、抛光；c热处理：炉温升至850℃～950℃后，将试样放入炉中开始计时，保温2～3min，从炉中迅速取出试样淬水冷却；d对抛光面表面生成的灰黑色氧化层进行再次抛光并腐蚀；e依据GB/T 6394金属平均晶粒度测定方法中的评级图谱对奥氏体晶粒进行评级。

技术领域

本发明属于金属材料领域，涉及一种用氧化法测定55SiCr弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法。

背景技术

目前尚无一种显示和测定55SiCr弹簧钢热轧盘条奥氏体晶粒度的方法。用“GB/T6394金属平均晶粒度测定方法”中用氧化法(C.2.1.5)给出的方法不适用于高硅易脱碳的55SiCr弹簧钢盘条。原因为热处理(860℃±10，保温1h)保温时间较长，表面产生较深的全脱碳层，放入冷水或盐水淬不上火，对预拋磨表面进行轻抛后显示的是铁素体晶粒，将铁素体全脱碳层全部磨掉后也显示不出奥氏体晶粒。

发明内容

本发明的目的在于提出了一种氧化法测定55SiCr弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法。

为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案实现：

一种氧化法测定弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法，其特征在于包括如下步骤：

a将盘条切割成横向金相样；

b对金相样进行打磨、抛光；

c热处理：炉温升至850℃～950℃后，将试样放入炉中开始计时，保温2～ 3min，从炉中取出试样淬水冷却；

d对抛光面表面生成的灰黑色氧化层进行再次抛光并腐蚀；

e依据GB/T 6394金属平均晶粒度测定方法中的评级图谱对奥氏体晶粒进行评级。

所述的腐蚀采用浓度4％的硝酸酒精溶液进行腐蚀。

技术方案设计的原理：由于55SiCr容易脱碳，可以降低保温时间，采用较短的保温时间使钢奥氏体化后在奥氏体晶界上产生氧化和脱碳。这样就可以显示奥氏体晶界了，然后根据GB/T6394金属平均晶粒度测定方法中的评级图谱进行奥氏体晶粒的评级。

采用本发明测定55SiCr弹簧钢盘条奥氏体晶粒度，不仅可清楚的显示出奥氏体晶粒还可以准确的测量出了奥氏体晶粒度。

附图说明

图1为900℃保温3min的显微组织；

图2为950℃保温3min的显微组织；

图3为850℃保温3min的显微组织。

具体实施方式

下面结合具体实施例进行说明：

一种氧化法测定55SiCr弹簧钢盘条奥氏体晶粒度的方法，包括如下步骤：

a将55SiCr盘条切割成横向金相样；

b对金相样进行打磨、抛光；

c热处理：炉温升至850℃～950℃后，将试样放入炉中(抛光面朝上)开始计时，保温2～3min，从炉中迅速取出试样淬水冷却；

d对抛光面表面生成的灰黑色氧化层进行再次抛光，然后用4％的硝酸酒精溶液进行腐蚀；

e依据“GB/T 6394金属平均晶粒度测定方法”对奥氏体晶粒进行评级。

图1为900℃保温3min的显微组织，可以清楚的看出奥氏体晶粒(奥氏体晶界内部为淬水后形成的马氏体)，奥氏体晶粒度8级。