[发明专利]镜面/类镜面物体的缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201910262066.0 | 申请日： | 2019-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN109916922A | 公开（公告）日： | 2019-06-21 |
| 发明（设计）人： | 孙博;郭磊 | 申请（专利权）人： | 易思维（杭州）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310051 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 镜面 镜面物体 调制信息 缺陷检测 质量图 图像 相机采集图像 正弦条纹图像 标准差 漆涂层 缺陷点 微米级 检出 可控 相移 预设 正弦 调制 投影 相机 检测 分析 | ||
1.一种镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于包括如下步骤：
1)将多幅正弦相移图像按照预设次序投影在待测镜面/类镜面物体表面，利用相机采集图像，所述图像为灰度图，有多幅，分别包含了各个正弦相移图像在所述待测镜面/类镜面物体表面所形成的影像；
2)按照如下公式计算图像上所有点(u,v)处的调制质量Z(u,v)；
Z(u,v)＝B(u,v)/A(u,v)
其中，A(u,v)为在点(u,v)处的背景光强，B(u,v)为点(u,v)处的调制光强；
3)计算所有Z(u,v)的均值μ和标准差σ；
4)对图像上所有点(u,v)判断|Z(u,v)-μ|≤mσ，若成立，则无缺陷，若不成立，则标记为缺陷点；m为依据误差范围所确定的系数。
2.如权利要求1所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：所述多幅正弦相移图像至少有3张。
3.如权利要求1所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：A(u,v)、B(u,v)是依据相机所采集的多幅图像的灰度值计算得到的。
4.如权利要求1所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：相机采集图像时的位置、向待测镜面/类镜面物体表面投影正弦相移图像的设备的位置、以及待测镜面/类镜面物体的位置相对固定。
5.如权利要求1～4中任意一项所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：所述图像中点(u,v)处的灰度值，计算公式如下：
其中，为点(u,v)处相位；n为第n幅采集图像，取值为0～N之间的自然数；N为相机采集图像的总张数；Irn(u,v)为第n张图在点(u,v)处的灰度值。
6.如权利要求1所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：向待测镜面/类镜面物体表面投影正弦相移图像的幅数等于相机采集图像的张数。
7.如权利要求1所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：m＝1～5。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于易思维（杭州）科技有限公司，未经易思维（杭州）科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910262066.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
