[发明专利]路径规划质量评估方法和装置，存储介质和电子设备

权利要求书

1.一种路径规划质量评估方法，其特征在于，所述方法包括：

获取样本轨迹的起始点和结束点，基于预设的路径规划模块规划待检路线，其中，所述样本轨迹包括多个位置点；

计算所述样本轨迹的所有位置点的平均定位误差；

根据所述平均定位误差，以及定位误差与带状区域宽度的对应关系获取带状区域的宽度；

根据所述带状区域的宽度设置覆盖所述待检路线的带状区域；

计算所述样本轨迹与所述带状区域的重合度信息；

根据所述重合度信息确定路径规划质量评估值；

所述计算所述样本轨迹与所述带状区域的重合度信息，包括：

判断所述样本轨迹中每一位置点是否位于所述带状区域；确定均位于所述带状区域的两相邻位置点，并计算所有已确定的所述两相邻位置点之间的地球球面距离；统计计算得到的球面距离的总长；计算所述球面距离的总长与所述待检路线总长的比值；其中，所述重合度信息包括所述比值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述重合度信息确定路径规划质量评估值，包括：

将针对多个所述样本轨迹中每一样本轨迹计算得到的所述比值的均值作为所述路径规划质量评估值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述样本轨迹与所述带状区域的重合度信息，还包括：

判断所述样本轨迹中每一位置点是否位于所述带状区域；

若所述样本轨迹中所有位置点均位于所述带状区域内，确定所述样本轨迹为无偏航样本；

其中，所述重合度信息包括用于描述所述样本轨迹是否为无偏航样本的描述信息。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述重合度信息确定路径规划质量评估值，还包括：

统计多个所述样本轨迹中无偏航样本的个数；

将所述无偏航样本的个数与所述样本轨迹的总数的比值作为所述路径规划质量评估值。

5.一种路径规划质量评估装置，其特征在于，所述装置包括：

规划模块，获取样本轨迹的起始点和结束点，基于预设的路径规划模块规划待检路线，其中，所述样本轨迹包括多个位置点；

设置模块，用于计算所述样本轨迹的所有位置点的平均定位误差；根据所述平均定位误差，以及定位误差与带状区域宽度的对应关系获取带状区域的宽度；根据所述带状区域的宽度设置覆盖所述待检路线的带状区域；

获取模块，用于计算所述样本轨迹与所述带状区域的重合度信息；

评估模块，用于根据所述重合度信息确定路径规划质量评估值；

其中，所述获取模块用于判断所述样本轨迹中每一位置点是否位于所述带状区域；确定均位于所述带状区域的两相邻位置点，并计算所有已确定的所述两相邻位置点之间的地球球面距离；统计计算得到的球面距离的总长；计算所述球面距离的总长与所述待检路线总长的比值；其中，所述重合度信息包括所述比值。

6.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-4中任一项所述方法的步骤。

7.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储器，其上存储有计算机程序；

处理器，用于执行所述存储器中的所述计算机程序，以实现权利要求1-4中任一项所述方法的步骤。