[发明专利]检查装置及检查方法

说明书

一种检查装置及检查方法，稳定地进行触摸面板的性能检查。一种触摸面板(1)的透明膜(11)的电阻值的检查装置(4)，触摸面板层叠有透明膜、CF玻璃(12)以及TP传感器(13)，检查装置(4)具备：积分电路(IR)，其对TP传感器施加第1脉冲电压，取得触摸面板的背景电容；以及开关(SW2)，其将透明膜连接到接地部或者相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的产生源。

技术领域

本发明涉及检查装置及检查方法。

背景技术

目前，在全内嵌(full in-cell)方式的触摸面板的面板表面形成有高电阻的透明膜。如果透明膜的电阻值变得小于本来的电阻值，则触摸信号下降，触摸性能下降。

作为检查触摸面板的触摸性能的下降状态的方法，可想到如下方法：使检查用导体触摸面板表面，确认在该表面内进行了描画的情况下的信号值是否变为规定值以上。然而，在该方法的情况下，容易产生检查工时的增加、检查用导体对面板表面上的接触偏差，因此检查变得不稳定，难以准确地检查。另外，因为使检查用导体接触面板表面，所以担心给面板表面带来损伤等。

此外，在专利文献1中公开了测量触摸面板的静电电容来判断触摸面板的好坏的检查装置。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：特开2015-207078号公报(2015年11月19日公开)

发明内容

发明要解决的问题

图4是示出现有技术的触摸面板1a的构成的图。触摸面板1a是将透明膜11、CF(Color Filter；彩色滤光片)玻璃12、TP(Touch Panel；触摸面板)传感器13、液晶层14以及TFT(Thin Film Transistor；薄膜晶体管)玻璃15层叠而构成的。透明膜11通过银膏8与IC6的接地部7连接。并且，通过使检查用导体9接触作为触摸面板1a的表面的透明膜11，从而检查触摸性能的下降状态。

上述的触摸面板的性能检查变得不稳定的问题是由于利用物理方法进行检查所导致的。反言之，如果不利用物理方法进行检查，则不会产生上述的问题。

本发明的一个方式的目的在于稳定地进行触摸面板的性能检查。

用于解决问题的方案

为了解决上述的问题，本发明的一个方式的检查装置是检查触摸面板的透明膜的电阻值的检查装置，上述触摸面板是至少层叠上述透明膜、电介质以及传感器而构成的，上述检查装置具备：背景电容取得部，其对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的背景电容；以及切换部，其将上述透明膜连接到接地部和相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的产生源中的任意一个

另外，为了解决上述的问题，本发明的一个方式的检查方法是检查触摸面板的透明膜的电阻值的检查方法，上述触摸面板是至少层叠上述透明膜、电介质以及传感器而构成的，上述检查方法包含：第1测量工序，在将上述透明膜连接到接地部的状态下，对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的第1背景电容；第2测量工序，在没有将上述透明膜连接到接地部，而对该透明膜施加了相位与第1脉冲电压相反的第2脉冲电压的状态下，对上述传感器施加第1脉冲电压，取得上述触摸面板的第2背景电容；以及检查工序，基于第1背景电容与第2背景电容的差来检查上述透明膜的电阻值。

发明效果

根据本发明的一个方式，能够稳定地进行触摸面板的性能检查。

附图说明