[发明专利]一种用于多台测试仪表间的切换系统及方法

说明书

本发明涉及一种用于多台测试仪表间的切换系统，包括至少两台测试仪表，每台所述测试仪表均连接至切换系统，切换系统包括MCU、测试信号电路和切换单元，每台测试仪表分别连接一个测试信号电路，所述测试信号电路另一端连接至MCU，切换单元接收MCU的控制指令切换不同的测试仪表执行测试操作。本发明还涉及一种用于多台测试仪表间的切换方法，包括切换系统开始启动；MCU通过第一信号电路向测试仪表发送开始测试信号；切换单元使该测试仪表执行测试操作；之后第一信号电路返回结束测试信号；MCU向另一个测试仪表发送开始测试信号，使其执行测试操作。本发明实现了在测试过程中，对多台测试仪表的切换操作，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，具体涉及一种用于多台测试仪表间的切换系统及方法。

背景技术

在电子器件生产企业中，生产之后要对器件进行出厂前的测试，尤其是对于二极管的测试，二极管的批量生产，数量之多，测试起来耗费的时间较长；在测试仪表有限的情况下，比如采用单台测试仪表对一批二极管测试时，机械设备上两个相邻被测试材料之间有一定的距离；每测试完成一次机械设备就要运动一次，机械运动慢，耗时较长。同时，每个被测试材料的数据处理、及与设备间的通讯都需要时间，所以测试占用时间较长；现在采用两台测试仪表，当第一台测试完成后，要进行数据处理和通讯之时，让第二台仪表进行测试，这样可以省去数据处理和设备的时间，但是目前，大多是多台仪表测试独立进行测试操作，这样的话每台测试仪表都需要进行独立的数据处理与通讯，且会造成被测材料的重复测试，对硬件设备要求较高，且增大了生产成本，因此如何使两台测试仪表或者多台测试仪表之间进行切换及配合测试，且提高测试效率是亟需解决的技术问题。

发明内容

本发明为解决现有多台测试仪表之间不能进行切换及相互配合测试的问题，提供一种用于多台测试仪表间的切换系统，实现了在测试过程中，对多台测试仪表的切换操作，提高了测试效率，且避免了重复测试。

为实现上述目的，本发明的技术方案是：

一种用于多台测试仪表间的切换系统，包括至少两台测试仪表，每台所述测试仪表均连接至切换系统，所述切换系统包括MCU、测试信号电路和切换单元，每台测试仪表分别连接一个测试信号电路，所述测试信号电路另一端连接至MCU，所述MCU的输出端连接切换单元；

所述测试信号电路，用于接收MCU的开始信号，并将开始信号传送至测试仪表，之后接收该测试仪表的结束信号返回至MCU；

所述切换单元，用于接收MCU的控制指令，切换不同的测试仪表执行测试操作。

进一步地，所述MCU连接有测试启动电路，所述测试启动电路包括第一按键，所述第一按键的两端连接第五光电耦合器的输出端，第一按键连接MCU的IO接口，第五光电耦合器的输入端接收最初启动测试信号；所述MCU的IO接口连接第六光电耦合器的输入端，所述第六光电耦合器的输出端发出最终结束测试信号。

进一步地，所述测试信号电路均包括第一信号电路和第二信号电路，所述第一信号电路包括第一光电耦合器，第一光电耦合器的输出端通过串口连接至测试仪表，第一光电耦合器的输入端连接MCU的IO接口；

所述第二信号电路包括8个第二光电耦合器，所述第二光电耦合器的输入端分别通过串口连接至测试仪表，第二光电耦合器的输出端分别连接MCU的IO接口。

进一步地，所述切换单元包括由光电耦合器组和多个继电器组构成的多种组合方式的开关电路；

每个所述继电器组包括8个继电器单元，每个继电器单元包括8个第一继电器；每个所述第一继电器的线圈分别串联有第一二极管的阴极，第一二极管的阳极均连接第一发光二极管的阳极，第一发光二极管的阴极连接24V电压，同时连接有第二继电器的线圈。