[发明专利]一种扫频RCS测试中抑制射频干扰的方法有效

专利信息
申请号: 201910266783.0 申请日: 2019-04-03
公开(公告)号: CN110061790B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 吕鸣;高超;候浩浩;刘芳 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: H04B17/20 分类号: H04B17/20;H04B1/10
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 张沫;谭辉
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 rcs 测试 抑制 射频 干扰 方法
【说明书】:

发明涉及一种扫频RCS测试中抑制射频干扰的方法,方法包括步骤:S1,打开测量系统接收机,在测试频率范围内观测并记录射频干扰频谱位置;S2,在测试频率范围内对目标进行扫频RCS测试;S3,从扫频测试RCS数据中剔除射频干扰所在频率处的测试数据;S4,利用筛选后数据计算目标的一维散射中心;S5,利用目标的一维散射中心在测试频率范围内重构目标扫频RCS。由此方法,利用目标特征重构被干扰频段的目标回波,可有效抑制RCS测试中射频干扰。

技术领域

本发明涉及RCS测试技术,尤其涉及一种扫频RCS测试中抑制射频干扰的方法。

背景技术

在未经电磁屏蔽处理的环境中进行RCS测试,测试结果容易受到环境中其它射频信号的干扰从而降低测试精度。RCS测试中常见的射频干扰包括广播电视信号、移动通信信号、卫星导航信号等。这些干扰的特点是在一定时间内稳定出现、频谱较窄且相对固定,而干扰信号的幅度、相位随时间变化表现出一定的随机性。

目前RCS测试中常用的杂波抑制方法包括矢量背景对消、空间域滤波等方法。然而上述方法处理射频干扰时往往难以奏效。其原因在于:一、射频干扰的幅相时变特性导致目标测试时场地背景与空场地测试背景不同,从而无法通过矢量对消对射频干扰进行抑制;二、射频干扰的幅相随机特性使其难以通过成像等手段进行积累,因此无法通过距离门滤波等空间域滤波方法将其消除。

发明内容

针对现有技术中在非电磁屏蔽环境中RCS测试易受外部射频杂波干扰影响的缺陷,提供了一种扫频RCS测试中抑制射频干扰的方法。

本发明的技术方案如下。

一种扫频RCS测试中抑制射频干扰的方法,方法包括以下步骤:

S1,打开测量系统接收机,在测试频率范围内观测并记录射频干扰频谱位置;

S2,在测试频率范围内对目标进行扫频RCS测试;

S3,从扫频测试RCS数据中剔除射频干扰所在频率处的测试数据;

S4,利用筛选后数据计算目标的一维散射中心;

S5,利用目标的一维散射中心在测试频率范围内重构目标扫频 RCS。

优选的,在S3中,通过带阻数字滤波器对扫频测试RCS数据进行滤波。

优选的,在S4中,一维散射中心的计算方法包括:

首先,需要构造与散射中心空间位置r相关的一组正交基函数组Φ(r);

第二步,计算测量数据E(f)在Φ(r)上的投影A(r),并将A(r)最大值记作Amax(r),将与Amax(r)对应的正交基函数记作

第三步,令进行迭代计算,并重复第二步过程,直至|E(f)|ξ,退出迭代,每次迭代得到的Amax(r)即为所求的目标散射中心。

实施本发明的,具有以下有益效果:通过分离未受射频杂波干扰的测试数据,反演目标沿距离分布的一维散射特征分布函数,利用目标特征重构被干扰频段的目标回波,从而实现抑制RCS测试中射频干扰的目的。

附图说明

图1是本发明一种扫频RCS测试中抑制射频干扰方法的总体流程图;

图2是目标一维散射中心的提取方法;

图3是直径为300mm的标准金属球扫频测量RCS(已定标)与其理论值比对;

图4是提取的目标一维散射中心与目标一维距离像对比;

图5是300mm标准金属球RCS实测值在经过射频干扰抑制后与原始测量值及理论值的对比。

具体实施方式

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