[发明专利]利用校正自动调节X射线机亮度方法、系统、存储介质、设备

权利要求书

1.利用校正自动调节X射线机亮度方法，其特征在于，包括如下步骤：

对高压发生器进行校正以得到若干组ABS电压值对应的管电压值与管电流值的数据；

读取所述高压发生器中的初始管电压值并根据校正结果设定ABS目标电压值与获取初始管电流值；

以初始管电压与初始管电流加载X射线机，根据被检测对象的反馈信息获得ABS反馈电压值；

调整管电压值与管电流值,以使得所述ABS反馈电压值等于所述ABS目标电压值，实现将X射线机亮度调节至目标亮度。

2.如权利要求1所述的利用校正自动调节X射线机亮度方法，其特征在于，所述调整管电压值包括如下步骤：

所述ABS目标电压值与所述ABS反馈电压值的差值，得出当前误差值；

所述当前误差值与上一次误差值以及KP、KI两个系数之间的关系，得到需要调整的管电压；公式如下：

△KV＝KP*(E_k-E_k0)+KI*E_k,其中，KP、KI为系数，E_k为ABS目标电压值与ABS反馈电压值的差值，E_k0为上一次调整时ABS目标电压值与ABS反馈电压值的差值，△KV为需要调整的管电压；

所述需要调整的管电压与当前管电压的和，得到下一帧管电压。

3.如权利要求2所述的利用校正自动调节X射线机亮度方法，其特征在于，所述调整管电流值包括：

从所述校正好的若干组数据中选择两组数据与所述下一帧管电压的对应关系，得出下一帧管电流；公式如下：

MA_next＝KV_next*(MA₂-MA₁)/(KV₂-KV₁)+MA₁

其中，KV₁为管电压第一校正点，KV₂为管电压第二校正点，MA₁为第一校正点KV₁对应的MA，MA₂为第二校正点KV₂对应的MA，KV_next为下一帧的KV。

4.如权利要求3所述的利用校正自动调节X射线机亮度方法，其特征在于，所述下一帧电压小于等于所述第二校正点并大于等于所述第一校正点并且所述第二校正点与所述第一校正点在所述若干组校正数据中相邻。

5.如权利要求2所述的利用校正自动调节X射线机亮度方法，其特征在于，所述初始管电压为第一帧电压值。

6.如权利要求2所述的利用校正自动调节X射线机亮度方法，其特征在于，初次使用ABS时设定所述KP、KI系数并将所述KP、KI系数保存于高压发生器中。

7.一种电子设备，其特征在于包括：处理器；

存储器；以及程序，其中所述程序被存储在所述存储器中，并且被配置成由处理器执行，所述程序包括用于执行如权利要求1所述的方法。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行如权利要求1所述的方法。

9.利用校正自动调节X射线机亮度系统，其特征在于，包括校正模块、设定模块、加载模块和调整模块；其中，

所述校正模块用于ABS对高压发生器进行校正以得到若干组ABS电压值对应的管电压值与管电流值的数据；

所述设定模块用于读取所述高压发生器中的初始管电压值并根据校正结果设定ABS目标电压值与获取初始管电流值；

所述加载模块用于以初始管电压与初始管电流加载X射线机，根据被检测对象的反馈信息获得ABS反馈电压值；

所述调整模块用于调整管电压值与管电流值,以使得所述ABS反馈电压值等于所述ABS目标电压值，实现将X射线机亮度调节至目标亮度。

10.如权利要求9所述的利用校正自动调节X射线机亮度系统，其特征在于，所述调整模块如下步骤：

所述ABS目标电压值与所述ABS反馈电压值的差值，得出当前误差值；

所述当前误差值与上一次误差值以及KP、KI两个系数之间的关系，得到需要调整的管电压；公式如下：

△KV＝KP*(E_k-E_k0)+KI*E_k,其中，KP、KI为系数，E_k为ABS目标电压值与ABS反馈电压值的差值，E_k0为上一次调整时ABS目标电压值与ABS反馈电压值的差值，△KV为需要调整的管电压；

所述需要调整的管电压与当前管电压的和，得到下一帧管电压；

从所述校正好的若干组数据中选择两组数据与所述下一帧管电压的对应关系，得出下一帧管电流；公式如下：

MA_next＝KV_next*(MA₂-MA₁)/(KV₂-KV₁)+MA₁

其中，KV₁为管电压第一校正点，KV₂管电压第二校正点，MA₁为第一校正点KV₁对应的MA，MA₂为第二校正点KV₂对应的MA，KV_next为下一帧的KV。