[发明专利]一种测试设备

权利要求书

1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备用于电子设备伸缩机构的顶出力性能测试；

所述测试设备包括：机台、支撑治具模组以及可调节测力模组，支撑治具模组设置在所述机台表面，所述支撑治具模组用于容置电子设备，所述可调节测力模组设置在所述机台表面，且所述可调节测力模组与所述支撑治具模组间隔设置；

其中，电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部，并顶持所述可调节测力模组，所述可调节测力模组用于测试不同型号的电子设备伸缩机构的顶出力性能是否正常；

所述可调节测力模组包括：底座以及滑轨；

其中，所述底座活动设置在所述机台表面，所述滑轨设置在所述机台上，所述滑轨沿电子设备伸缩机构的伸缩方向延伸，其中，所述底座安装在所述滑轨上，且所述底座可沿所述滑轨移动；

所述底座和所述机台上分别设有相应的第一定位孔和第二定位孔；

所述测试设备包括：第一定位件，所述第一定位件穿过所述第一定位孔和所述第二定位孔，以将所述底座定位于所述机台。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，

所述底座上开设有第一通孔，所述第一通孔沿电子设备伸缩机构的伸缩方向贯穿所述底座；

所述可调节测力模组还包括：

阻力元件，活动收容于所述第一通孔内；

感应单元，设置在所述底座上且与所述阻力元件间隔设置，用于在电子设备伸缩机构顶持所述阻力元件以使所述阻力元件上升时，感应所述阻力元件是否与所述感应单元抵接。

3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述感应单元包括感应元件以及用于支撑所述感应元件的支架本体，所述支架本体活动设置在所述底座上且可沿电子设备伸缩机构的伸缩方向移动；

所述底座和所述支架本体上分别设有相应的第三定位孔和第四定位孔；

所述测试设备包括：第二定位件，所述第二定位件穿过所述第三定位孔和所述第四定位孔，以将所述支架本体定位于所述底座。

4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，

所述感应单元进一步包括支架横梁，所述支架横梁活动设置在所述支架本体上且可沿电子设备伸缩机构的伸缩方向移动；

所述支架本体和所述支架横梁上分别设有相应的第五定位孔和第六定位孔；

所述测试设备包括：第三定位件，所述第三定位件穿过所述第五定位孔和所述第六定位孔，以将所述支架横梁定位于所述支架本体上。

5.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述阻力元件为至少一个压缩弹簧，预设测试阻力为所述压缩弹簧的张力，其中，电子设备伸缩机构可顶持所述压缩弹簧，以使所述压缩弹簧上升。

6.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述阻力元件为气缸，预设测试阻力为所述气缸所产生的压力，其中，电子设备伸缩机构可顶持所述气缸，以使所述气缸上升。

7.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述支撑治具模组的上端面与所述阻力元件的下端面之间具有第一间隔距离，所述阻力元件的上端面与所述感应单元的下端面之间具有第二间隔距离；

所述第一间隔距离与所述第二间隔距离之和小于等于电子设备伸缩机构的最大伸出行程。

8.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，

所述支撑治具模组包括：支撑治具本体以及多个限位件；

多个所述限位件间隔且活动设置于所述支撑治具本体的边缘，所述限位件用于卡紧电子设备。

9.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述支撑治具本体上开设有一通孔，所述支撑治具模组进一步包括：

吸附元件，与外部气路系统连接，所述吸附元件穿设于所述通孔内，以吸附固定电子设备。