[发明专利]标定装置、标定系统及标定方法

权利要求书

1.一种标定装置，其特征在于，包括：

底座；

标定件，所述标定件设置在所述底座上，所述标定件上设有第一标定面，所述第一标定面用于与激光扫描仪的移动轨迹平行设置；及

调节组件，所述底座设置在所述调节组件上，所述调节组件用于调节所述第一标定面的平面位置。

2.根据权利要求1所述的标定装置，其特征在于，所述标定件上还设有第二标定面，所述第二标定面与所述第一标定面并列设置；所述第二标定面相对所述标定件的底部距离L₂小于所述第一标定面相对所述标定件的底部距离L₁；或者所述第二标定面相对所述标定件的底部距离L₂大于所述第一标定面相对所述标定件的底部距离L₁。

3.根据权利要求2所述的标定装置，其特征在于，所述第二标定面为两个以上，两个以上的所述第二标定面并列设置在所述标定件上；所述第二标定面相对所述标定件的底部距离L₂沿着所述标定件的宽度方向逐渐增大或者逐渐减小。

4.根据权利要求1所述的标定装置，其特征在于，所述调节组件包括支撑件与第一调平件，所述支撑件设置在所述第一调平件上，且所述支撑件在所述第一调平件上的高度可调，所述底座设置在所述支撑件上。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的标定装置，其特征在于，还包括水平指示器，所述水平指示器设置在所述底座上。

6.一种标定系统，其特征在于，包括导轨、激光扫描仪及权利要求1-5任意一项所述的标定装置，所述激光扫描仪与所述导轨滑动配合，所述导轨沿着所述第一标定面的长度方向延伸设置。

7.根据权利要求6所述的标定系统，其特征在于，还包括支架，所述导轨设置在所述支架上。

8.根据权利要求7所述的标定系统，其特征在于，还包括第二调平件，所述支架设置在所述第二调平件上，且所述支架在所述第二调平件上的高度可调。

9.一种标定方法，其特征在于，包括以下步骤：

沿着第一标定面的长度方向，移动激光扫描仪或者标定件，每移动第一预设间距，所述激光扫描仪对所述第一标定面进行测定，得出所述第一标定面以底座为基准面的高度平均值h_1,avg；

得出高度平均值之后，移动所述激光扫描仪或者所述标定件，每移动第二预设间距，所述激光扫描仪对所述第一标定面进行测定，并输出以底座为基座面的测试高度值h_i,1，其中i为自然数；

将所述测试高度值h_i,1与所述第一标定面的高度平均值h_1,avg相减，得出所述第一标定面的高度误差d_i,1，并对所述第一标定面的高度误差d_i,1进行误差分析。

10.根据权利要求9所述的标定方法，其特征在于，所述步骤还包括：

沿着其中一个第二标定面的长度方向，移动所述激光扫描仪或者所述标定件，每移动第三预设间距，所述激光扫描仪对所述第二标定面进行测定，得出所述第二标定面以所述底座为基座面的高度平均值h_m,avg，其中m为自然数，且m≥2，第二标定面相对标定件的底部高度小于第一标定面相对标定件的底部高度；

得出高度平均值之后，移动所述激光扫描仪或者所述标定件，每移动第四预设间距，所述激光扫描仪对所述第二标定面进行测定，并输出以底座为基座面的测试高度值h_j,m，其中j为自然数；

将所述测试高度值h_j,m与所述第二标定面的高度平均值h_m,avg相减，得出所述第二标定面的高度误差d_j,m；

对所述第一标定面的高度误差d_i,1与所述第二标定面的高度误差d_j,m处理，并进行误差分析。