[发明专利]一种电子产品可靠性水平预计方法

权利要求书

1.一种电子产品可靠性水平预计方法，其特征在于：包括

S1.存储电子产品中包含的全部元器件的器件信息至终端数据库，所述器件信息包括所述元器件的种类信息、额定工作信息、额定使用条件信息与可靠性数据信息；

S2.根据存储在终端数据库内的器件信息，建立元器件可靠性预计清单，并根据可靠性预计清单形成模块树；

S3.根据所述模块树，对待预计的元器件进行信息匹配，并将匹配到的元器件的器件信息导入至待预计元器件属性中；

S4.整合待预计元器件的器件信息，并根据可靠性预计标准数据库，计算待预计元器件的可靠性水平值；

S5.统计电子产品中包含的全部元器件的可靠性水平值，得到所述电子产品的可靠性水平值。

2.根据权利要求1所述的电子产品可靠性水平预计方法，其特征在于：所述S1的具体步骤包括：

S11.扫描元器件的规格书或说明书，得到电子扫描件；

S12.识别所述电子扫描件上的文字信息，并将识别到的、包含有所述元器件种类信息、额定工作信息、额定使用条件信息与可靠性数据信息的文字信息存储至终端数据库。

3.根据权利要求1所述的电子产品可靠性水平预计方法，其特征在于：所述S1的具体步骤包括：手动输入电子产品中包含的全部元器件的器件信息至终端数据库。

4.根据权利要求1所述的电子产品可靠性水平预计方法，其特征在于：所述S2的具体步骤包括：导入BOM表，根据存储在终端数据库内的器件信息，建立元器件可靠性预计清单；或者手动输入元器件清单，根据存储在终端数据库内的器件信息，建立元器件可靠性预计清单；并根据可靠性预计清单在操作页面建立系统树状架构，即模块树。

5.根据权利要求1所述的电子产品可靠性水平预计方法，其特征在于：所述可靠性标准预计数据库为GJB299C/MIL217F/MIL217Plus数据库。

6.根据权利要求1所述的电子产品可靠性水平预计方法，其特征在于：所述S4的具体步骤包括：整合待预计元器件器件信息中的种类信息，并根据可靠性预计标准数据库，采用应力分析法计算待预计元器件的可靠性水平值；其计算公式为：

其中，λ_b为基本失效率；π_E为环境系数；π_Q为质量系数；π_r为领定电流系数；为电压应力系数。

7.根据权利要求1所述的电子产品可靠性水平预计方法，其特征在于：所述S4的具体步骤包括：整合待预计元器件器件信息中的种类信息，并根据可靠性预计标准数据库，采用元器件计数法计算待预计元器件的可靠性水平值；其计算公式为：

λ_p＝λ_bπ_Eπ_Q；

其中，λ_b为基本失效率；π_E为环境系数；π_Q为质量系数。

8.根据权利要求1所述的电子产品可靠性水平预计方法，其特征在于：所述电子产品的可靠性水平值为全部元器件失效率之和；即：

其中，λ_总为系统失效率；λ_Pi为第i个元器件失效率。