[发明专利]一种eMMC掉电保护的测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种eMMC掉电保护的测试方法及系统，涉及eMMC检测技术领域，该方法基于处理器系统、eMMC、CPLD、电源管理芯片以及电源模块，其特征在于，方法包括以下步骤：处理器系统对eMMC下达写操作指令，产生写操作开启信号；CPLD检测到写操作开启信号，向电源管理芯片的电源监控管脚输出掉电操作信号；电源管理芯片控制电源模块，对eMMC进行掉电操作；电源管理芯片控制电源模块，对eMMC进行上电操作；对eMMC进行检测，判断eMMC是否数据异常。本发明模拟eMMC的工作环境，并对其添加掉电状态，进行人为可控的掉电状态模拟，进而进行eMMC的掉电保护测试。

技术领域

本发明涉及eMMC检测技术领域，具体涉及一种eMMC掉电保护的测试方法及系统。

背景技术

eMMC是一种掉电非易失性存储器，目前广泛应用于手机、平板电脑、通信设备等嵌入式系统中，而eMMC在写入数据的过程中，如果突然发生异常掉电，则会导致数据丢失、数据写入错误或数据写入不完整等不可预知的问题造成系统异常；

通常情况下，eMMC具有掉电保护的功能，但这种掉电保护并不能针对所有的掉电情况进行保护，故在嵌入式系统的设计中，通常会仍会增加硬件的掉电保护电路和软件的相关设计来加强eMMC的可靠性；

虽然无论是从硬件的角度还是软件的角度，防止eMMC异常掉电带来损害的方法很多，但这些方法是否能真正有效的达到掉电保护的效果，则需要一种合理的测试方法进行验证，验证掉电保护的实际效果。

发明内容

针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种eMMC掉电保护的测试方法及系统，模拟eMMC的工作环境，并对其添加掉电状态，进行人为可控的掉电状态模拟，进而进行eMMC的掉电保护测试。

为达到以上目的，本发明公开一种eMMC掉电保护的测试方法，所述方法基于处理器系统、eMMC、CPLD、电源管理芯片以及电源模块，所述方法包括以下步骤：

所述处理器系统对所述eMMC下达写操作指令，产生写操作开启信号；

所述CPLD检测到所述写操作开启信号，向所述电源管理芯片的电源监控管脚输出掉电操作信号；

所述电源管理芯片控制所述电源模块，对所述eMMC进行掉电操作；

所述电源管理芯片控制所述电源模块，对所述eMMC进行上电操作；

对所述eMMC进行检测，判断所述eMMC是否数据异常。

本发明创造中，利用所述处理器系统、所述CPLD进行控制，向所述电源管理芯片发送掉电操作信号，从而在模拟写操作的同时进行掉电模拟工作，从而对所述eMMC的环境进行模拟，模拟其在进行写操作时发生掉电意外；

而后再利用电源管理芯片控制所述电源模块，对所述eMMC进行上电操作，对其恢复供电，进而利用现有的数据测试方法，检查所述eMMC是否发生数据丢失或其他数据异常情况；

本发明创造，模拟eMMC的工作环境，并对其添加掉电状态，进行人为可控的掉电状态模拟，进而进行eMMC的掉电保护测试。

需要说明的是，所述处理器系统包括支持linux系统的CPU、时钟模块、供电模块以及存储模块。

在上述技术方案的基础上，所述对eMMC进行检测，判断eMMC是否数据异常中，具体操作包括：

将上次写入的数据和本次读出的数据进行对比，判断是否一致，若一致则eMMC数据正常，反之则eMMC数据异常。

在上述技术方案的基础上，所述CPLD的IO管脚配置一第一电阻，进而与所述电源管理芯片的电源监控管脚连接，并配置一下拉电阻接地；

所述第一电阻用于将所述CPLD的所述IO管脚置于高阻态。