[发明专利]免疫定量分析系统

权利要求书

1.免疫定量分析系统，其特征在于：包括如下步骤，

步骤A：将试剂卡阵列排布在治具上，得到试剂卡阵列；

步骤B：利用CIS扫描仪逐步扫描试剂卡阵列；

步骤C：将先行扫描得到的部分试剂卡阵列图像(1)发送至图像校正模块进行校正处理；

步骤D：CIS扫描仪在继续对试剂卡阵列的剩下部分进行扫描的同时，图像校正模块对先行采集得到的部分试剂卡阵列的图像进行校正，所述图像校正利用图像校正算法对采集到的部分试剂卡阵列图像(1)进行校正和拼接处理，得到校正后的完整的试剂卡阵列图像(1)；

步骤E：从完整的试剂卡阵列图像(1)中识别单独的试剂卡图像和设置于单独试剂卡图像(2)中的二维码区图像(3)以及二维码区图像(3)的坐标，然后根据二维码区图像(3)的坐标计算相对坐标得到设置于单独试剂卡图像(2)中用于显示检测结果的检测区图像(4)；

步骤F：从检测区图像(4)中识别设置于检测区图像(4)中的控制线图像(5)，然后根据控制线图像(5)计算先对距离得到设置于检测区图像(4)中的测试线图像(6)，然后获取设置于检测区图像(4)中位于控制线图像(5)与测试线图像(6)之间的参考背景区图像(7)；

步骤G：识别控制线图像(5)、测试线图像(6)和参考背景区图像(7)的显色数据，然后根据该三项显色数据进行计算得到显色级结果。

2.根据权利要求1所述的免疫定量分析系统，其特征在于：所述步骤D中的图像校正算法为两点校正法，该两点校正法包括如下步骤，

步骤D1：利用CIS扫描仪扫描一张半白半黑的图像数据；

步骤D2：获取白的列平均值W和黑的列平均值B；

步骤D3：获取试剂卡阵列图像(1)中需校正像素点的原始数值S，然后与获取的W和B的数值代入如下公式，计算得出试剂卡阵列图像(1)校正参数V结果，

步骤D4：利用得到的校正参数V结果对试剂卡阵列图像(1)的每行数据进行校正和拼接，得到校正后的完整的试剂卡阵列图像(1)。

3.根据权利要求1所述的免疫定量分析系统，其特征在于：所述步骤G中计算显色级结果的公式如下：

其中∑Gc、∑Gt、∑Gr分别对应为控制线图像(5)、测试线图像(6)和参考背景区图像(7)内的全部像素点的显色灰度值的求和，而Gradc为计算后的控制线的显色灰度值，Gradt为计算后的测试线的显色灰度值，L则为显色级结果。

4.根据权利要求1所述的免疫定量分析系统，其特征在于：所述步骤F中参考背景区图像(7)的获取是通过计算控制线图像(5)的中心点与测试线图像(6)的中心点相连的中心线的中点获取的，该中心线的中点就是参考背景区图像(7)的中点。

5.根据权利要求1所述的免疫定量分析系统，其特征在于：所述步骤G完成后进行步骤H：将计算得到的显色级结果对照预先制定的浓度对照表从而得到浓度值。

6.根据权利要求1所述的免疫定量分析系统，其特征在于：所述步骤G中计算得到显色级结果后，将该显色级结果与单独试剂卡图像(2)中的二维码进行配对存储。

7.根据权利要求1所述的免疫定量分析系统，其特征在于：所述步骤D中得到校正后的完整的试剂卡阵列图像(1)后，对其进行图像滤波处理。