[发明专利]一种测量85

权利要求书

1.一种基于叠层反符合探测器的⁸⁵Kr测量系统，包括气体分离纯化模块（21）、复合屏蔽体（22）、高压电源（24）、PC终端（26），其特征在于，包括叠层反符合探测器（23）和脉冲甄别模块（25）；

所述叠层反符合探测器（23）包括样品接口（1）、测量闪烁体顶盖（3）、隔离薄膜（4）、测量闪烁体杯身（5）、不锈钢外壳（8）、反符合闪烁体（13）、光电倍增管（14）、分压及读出电路（15）、电源接口（16）、信号接口（17）；不锈钢外壳（8）包裹在叠层反符合探测器（23）的外围；测量闪烁体杯身（5）与测量闪烁体顶盖（3）通过连接螺纹（7）密封连接形成测量闪烁体容器，测量闪烁体容器固定在反符合闪烁体（13）的内部，测量闪烁体容器的中空部分为储存待测⁸⁵Kr的样品池（12）；隔离薄膜（4）蒸镀在测量闪烁体容器的内表面，将样品池（12）与测量闪烁体完全隔离；所述反符合闪烁体（13）外表包裹反光层（9），反光层（9）紧密贴合在所述不锈钢外壳（8）内，反符合闪烁体（13）与测量闪烁体杯身（5）通过光耦合剂层Ⅰ（10）耦合；光电倍增管（14）通过光耦合剂层Ⅱ（11）与反符合闪烁体（13）耦合，光电倍增管（14）的后端连接分压及读出电路（15），分压及读出电路（15）具有电源接口（16）和信号接口（17），电源接口（16）连接外接的高压电源（24），信号接口（17）输出测量信号；

所述气体分离纯化模块（21）通过样品接口（1）与所述叠层反符合探测器（23）连接，所述样品接口（1）上安装有阀门（2）；所述样品接口（1）穿过不锈钢外壳（8）与测量闪烁体顶盖（3）连接，样品接口（1）通过固定凸台（6）焊接在不锈钢外壳（8）上；所述复合屏蔽体（22）安装在所述叠层反符合探测器（23）外围；

所述脉冲甄别模块（25）通过信号接口（17）与所述叠层反符合探测器（23）连接，根据所述叠层反符合探测器（23）输出的脉冲信号波形特征提取出代表⁸⁵Kr信息的β脉冲信号，处理后传输至所述PC终端（26）的上位机软件，获得β能谱和计数信息，并根据事先标定的效率参数计算得到样品中⁸⁵Kr的活度值。

2. 根据权利要求 1 所述的⁸⁵Kr测量系统，其特征在于：所述测量闪烁体容器形状为带盖的空心圆筒容器。

3. 根据权利要求 1 所述的⁸⁵Kr测量系统，其特征在于：所述样品接口（1）采用一条管道连接样品池（12），此管道同时用于输入、输出待测⁸⁵Kr样品和输入、输出样品池（12）清洗气体。

4. 根据权利要求 1 所述的⁸⁵Kr测量系统，其特征在于：所述样品接口（1）与信号接口（17）对称分布在所述叠层反符合探测器（23）的前后两端，样品接口（1）与信号接口（17）互不干扰。

5. 根据权利要求 1 所述的⁸⁵Kr测量系统，其特征在于：所述测量闪烁体顶盖（3）和测量闪烁体杯身（5）采用塑料闪烁体加工，测量闪烁体顶盖（3）和测量闪烁体杯身（5）的厚度为 3mm。

6. 根据权利要求 1 所述的⁸⁵Kr测量系统，其特征在于：所述隔离薄膜（4）为 Al₂O₃ 薄膜或 SiO₂ 薄膜，隔离薄膜（4）的厚度范围为 300nm~500nm。

7. 根据权利要求 1 所述的⁸⁵Kr测量系统，其特征在于：所述反符合闪烁体（13）的材料为NaI(Tl)晶体或CsI(Tl)晶体。