[发明专利]液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法

权利要求书

1.一种液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，所述方法包括以下步骤：

（1）使用差示扫描量热法，在向列相低温侧测试温度范围内，对待测样品进行测定；所述测定从测试温度范围的最高温度降温至测试温度范围的最低温度，得到降温DSC曲线，对同一待测样品重复测试两次或两次以上；和/或所述测定从测试温度范围的最低温度升温至测试温度范围的最高温度，得到升温DSC曲线，对同一待测样品重复测试两次或两次以上；

（2）如果至少一次降温DSC曲线或者升温DSC曲线中有波峰或者波谷出现，确定该波峰或波谷所对应的温度为液晶组合物向列相低温稳定性异常的候选温度点；

（3）求出测试温度范围内的各温度点处，两次降温DSC曲线中对应热流量的差值ΔH和/或两次升温DSC曲线中对应热流量的差值ΔH，以该差值ΔH作为纵坐标，以对应的温度点作为横坐标，制作降温ΔDSC曲线和/或升温ΔDSC曲线；在所述降温ΔDSC曲线和/或升温ΔDSC曲线中，当相邻波峰与波谷差值超过预定值TH时，则该波峰和波谷所对应的温度点确定为液晶组合物向列相低温稳定性异常的候选温度点，

其中，根据DSC测试时的降温速率或升温速率确定所述预定值TH，，其中，a表示降温速率和/或升温速率，[ ]表示向下取整；

（4）根据第（2）步骤和第（3）步骤中液晶组合物向列相低温稳定性异常的候选温度点的存在与否以及存在的位置，确定液晶组合物向列相的低温稳定性，

如果在测试温度范围内，通过步骤（2）和步骤（3）检测到液晶组合物向列相稳定性异常的候选温度点，则液晶组合物向列相低温稳定性异常的候选温度点中温度最高的点确定为液晶组合物向列相低温稳定性的异常温度点，该异常温度点及其以下的温度，确定为液晶组合物向列相无法稳定地存在的温度；

如果通过步骤（2）和步骤（3）没有检测到液晶组合物向列相稳定性异常的候选温度点，则确定在测试温度范围内液晶组合物向列相可以稳定地存在。

2.根据权利要求1所述液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，其中，步骤（1）中，所述测定从测试温度范围的最高温度降温至测试温度范围的最低温度，以固定速率进行降温。

3.根据权利要求1所述液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，其中，步骤（1）中，所述测定从测试温度范围的最低温度升温至测试温度范围的最高温度，以固定速率进行升温。

4.根据权利要求1所述液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，其中，步骤（3）中，依据测试顺序，获得相邻两次降温DSC曲线和/或相邻两次升温DSC曲线中对应热流量的差值ΔH。

5.根据权利要求1所述的液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，其中，所采用的差示扫描量热法为功率补偿型差示扫描量热法。

6.根据权利要求1所述的液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，其中，在步骤（1）中，差示扫描量热法测定中所使用的参比物为空气坩埚。

7.根据权利要求1所述的液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，其中，在步骤（1）中，测试温度范围为：-50-40℃。

8.根据权利要求1所述的液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，其中，在步骤（1）中，测试温度范围为：-40℃-25℃。

9.根据权利要求1所述的液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，其中，测定DSC曲线所使用的降温和/或升温速率为1-20℃/min。

10.根据权利要求1所述的液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，其中，测定DSC曲线所使用的降温和/或升温速率为1-10℃/min。

11.根据权利要求1-10任一项所述的液晶组合物向列相低温稳定性的确定方法，其中所述液晶组合物中的液晶为热致液晶。