[发明专利]天线抗干扰材料检测方法

权利要求书

1.一种天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S1、提供天线(1)、待测吸波材料片(2)及金属片(3)；

步骤S2、将待测吸波材料片(2)设于天线(1)的一侧；

步骤S3、将天线(1)的阻抗调整为预设的参考阻抗；

步骤S4、将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)一侧的预设位置，测量将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的预设位置时天线(1)的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量；

步骤S5、将待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量与预设的标准变化范围进行比较，若待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量满足预设的标准变化范围时，则判定该待测吸波材料片(2)的材料符合标准，否则判定该待测吸波材料片(2)的材料不符合标准。

2.如权利要求1所述的天线吸波材料性测试方法，其特征在于，所述步骤S1还将天线(1)的阻抗调整为预设的初始阻抗。

3.如权利要求2所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述参考阻抗与初始阻抗相同或不同。

4.如权利要求3所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述参考阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0，所述初始阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0。

5.如权利要求3所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述参考阻抗中的电阻为60Ω，电抗为XΩ，其中，X为预设的参考电抗值，所述初始阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0。

6.如权利要求2所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述步骤S1中将天线(1)的阻抗调整为预设的初始阻抗的具体过程为：对天线(1)的阻抗进行调整同时利用矢量网络分析仪(4)实时测量天线(1)的阻抗，直至将天线(1)的阻抗调整为初始阻抗；

所述步骤S3具体为：对天线(1)的阻抗进行调整同时利用矢量网络分析仪(4)实时测量天线(1)的阻抗，直至将天线(1)的阻抗调整为参考阻抗；

所述步骤S4中，利用矢量网络分析仪(4)测量将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的预设位置时天线(1)的实际阻抗。

7.如权利要求1所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述步骤S4中，分别将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)一侧的多个预设位置，分别测量将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的多个预设位置时天线(1)的实际阻抗，分别计算将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的多个预设位置时天线(1)的实际阻抗与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片(2)对应的多个天线阻抗变化量，多个天线阻抗变化量分别与多个预设位置对应。

8.如权利要求7所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述多个预设位置沿远离待测吸波材料片(2)的方向依次设置，任意两个相邻的预设位置之间的距离相等，最靠近待测吸波材料片(2)的预设位置与待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧之间的距离为0。

9.如权利要求8所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，多个预设位置的数量为三个，该三个预设位置之间的间隔均为0.5cm。

10.如权利要求1所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述天线(1)的工作频率为13.56MHz。