[发明专利]化学气相沉积装置维护保养方法有效
申请号: | 201910278360.0 | 申请日: | 2019-04-09 |
公开(公告)号: | CN110112049B | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 覃多喜 | 申请(专利权)人: | TCL华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32;G01N15/00 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 化学 沉积 装置 维护 保养 方法 | ||
1.一种化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,包括:
步骤S10:通过气体吹扫,筛选符合测试要求的扩散器;
步骤S20:设定检测规格的预设值,通过微粒测量仪对所述扩散器进行微粒检测;
步骤S30:将所述扩散器装配到化学气相沉积装置,进行试验生产;以及
步骤S40:所述化学气相沉积装置进行正式生产,并持续对所述化学气相沉积装置进行微粒检测。
2.如权利要求1所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S10中,对于不符合测试要求的所述扩散器进行返厂维护。
3.如权利要求1所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S20中,在进行所述微粒检测之前,对所述扩散器进行第二次气体吹扫。
4.如权利要求3所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述第二次气体吹扫的时间为1小时。
5.如权利要求1所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S20中,若测量结果在所述预设值范围之外,判定当前的维护保养失败,将所述测量结果汇整,修正所述预设值,并将所述扩散器返厂维护。
6.如权利要求1所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S40中,持续对所述化学气相沉积装置进行微粒检测的时间为3天。
7.如权利要求6所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S40中,若持续检测的测量结果在所述预设值范围之内,判定当前的维护保养成功。
8.如权利要求7所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S40中,若持续检测的测量结果在所述预设值范围之外,判定当前的维护保养失败,将所述测量结果汇整,并修正维护保养规范。
9.如权利要求1所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述预设值包括所述微粒的直径以及单位空间内的微粒数量。
10.如权利要求9所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述单位空间内直径D1=0.5μm的所述微粒的数量为N1,所述单位空间内直径D2=1μm的所述微粒的数量为N2,(N1+N2)/2≤20;所述单位空间内直径为D3=3μm的所述微粒的数量为N3,所述单位空间内直径为D4=5μm的所述微粒的数量为N4,(N3+N4)/2≤5;所述单位空间内直径为D5=10μm的所述微粒的数量N5≤2。
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