[发明专利]化学气相沉积装置维护保养方法有效

专利信息
申请号: 201910278360.0 申请日: 2019-04-09
公开(公告)号: CN110112049B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 覃多喜 申请(专利权)人: TCL华星光电技术有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;G01N15/00
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 化学 沉积 装置 维护 保养 方法
【权利要求书】:

1.一种化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,包括:

步骤S10:通过气体吹扫,筛选符合测试要求的扩散器;

步骤S20:设定检测规格的预设值,通过微粒测量仪对所述扩散器进行微粒检测;

步骤S30:将所述扩散器装配到化学气相沉积装置,进行试验生产;以及

步骤S40:所述化学气相沉积装置进行正式生产,并持续对所述化学气相沉积装置进行微粒检测。

2.如权利要求1所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S10中,对于不符合测试要求的所述扩散器进行返厂维护。

3.如权利要求1所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S20中,在进行所述微粒检测之前,对所述扩散器进行第二次气体吹扫。

4.如权利要求3所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述第二次气体吹扫的时间为1小时。

5.如权利要求1所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S20中,若测量结果在所述预设值范围之外,判定当前的维护保养失败,将所述测量结果汇整,修正所述预设值,并将所述扩散器返厂维护。

6.如权利要求1所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S40中,持续对所述化学气相沉积装置进行微粒检测的时间为3天。

7.如权利要求6所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S40中,若持续检测的测量结果在所述预设值范围之内,判定当前的维护保养成功。

8.如权利要求7所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述步骤S40中,若持续检测的测量结果在所述预设值范围之外,判定当前的维护保养失败,将所述测量结果汇整,并修正维护保养规范。

9.如权利要求1所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述预设值包括所述微粒的直径以及单位空间内的微粒数量。

10.如权利要求9所述的化学气相沉积装置维护保养方法,其特征在于,所述单位空间内直径D1=0.5μm的所述微粒的数量为N1,所述单位空间内直径D2=1μm的所述微粒的数量为N2,(N1+N2)/2≤20;所述单位空间内直径为D3=3μm的所述微粒的数量为N3,所述单位空间内直径为D4=5μm的所述微粒的数量为N4,(N3+N4)/2≤5;所述单位空间内直径为D5=10μm的所述微粒的数量N5≤2。

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