[发明专利]显示面板

说明书

一种显示面板可包括：多个像素组；第一照明测试电路，用于测试所述多个像素组中的至少一个像素；解复用器，用于将数据信号提供到所述多个像素组；和第二照明测试电路，用于测试所述多个像素组中的一个或多个像素。所述第一照明测试电路和所述解复用器中的至少一个位于所述多个像素组和所述第二照明测试电路之间。

技术领域

技术领域涉及显示面板和显示装置。

背景技术

显示装置的示例包括液晶显示(LCD)装置、场发射显示(FED)装置、等离子体显示面板(PDP)装置和有机发光显示(OLED)装置。显示装置可包括显示面板。

在显示装置的制造工艺中，可通过一个或多个照明测试来检测显示装置的显示面板的缺陷。用于执行显示面板的照明测试的照明测试电路可形成在显示面板的非显示区域中。

发明内容

一些示例实施例涉及具有最小非显示区域的显示面板。

一些示例实施例涉及具有最小非显示区域的显示装置。

根据示例实施例，显示面板可包括：显示区域，所述显示区域包括在第一方向上延伸并且布置在与所述第一方向垂直的第二方向上的多个数据线和耦接到所述数据线的多个像素行；非显示区域，所述非显示区域配置为围绕所述显示区域；第一照明测试电路，所述第一照明测试电路形成于在所述第一方向上与所述显示区域相邻的所述非显示区域中，所述第一照明测试电路配置为将照明测试电压通过所述数据线提供到所述像素行；解复用器，所述解复用器形成于在所述第一方向上与所述第一照明测试电路相邻的所述非显示区域中，所述解复用器配置为将数据信号通过所述数据线提供到所述像素行；和第二照明测试电路，所述第二照明测试电路形成于在所述第一方向上与所述解复用器相邻的所述非显示区域中，所述第二照明测试电路配置为将所述照明测试电压通过所述数据线提供到所述像素行。

在示例实施例中，所述非显示区域可包括其上安装有提供所述数据信号的数据集成电路(IC)的所述数据集成电路的安装区域。

在示例实施例中，所述第二照明测试电路可形成在所述数据集成电路的所述安装区域中。

在示例实施例中，所述第二照明测试电路可形成于在所述第一方向上与所述数据集成电路的所述安装区域相邻的切割区域中。

在示例实施例中，所述第二照明测试电路可在照明测试处理之后被切除。

在示例实施例中，所述显示区域可包括：第一像素行，所述第一像素行包括交替布置的显示第一颜色的第一像素和显示第二颜色的第二像素；第二像素行，所述第二像素行包括显示第三颜色的第三像素；和第三像素行，所述第三像素行包括以与所述第一像素行的相反顺序布置的所述第一像素和所述第二像素。

在示例实施例中，所述第一照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第二像素行，并且所述第二照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第一像素行和所述第三像素行。

在示例实施例中，所述第二照明测试电路可将所述照明测试电压交替提供到所述第一像素行和所述第三像素行中包括的所述第一像素和所述第二像素。

在示例实施例中，所述第一照明测试电路可包括第三晶体管，所述第三晶体管响应于第三测试控制信号将第三照明测试电压提供到所述第三像素。

在示例实施例中，所述第二照明测试电路可包括：第一晶体管，所述第一晶体管配置为响应于第一测试控制信号将第一照明测试电压提供到所述第一像素；和第二晶体管，所述第二晶体管配置为响应于第二测试控制信号将第二照明测试电压提供到所述第二像素。

在示例实施例中，所述第一照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第一像素行和所述第三像素行，并且所述第二照明测试电路可将所述照明测试电压提供到所述第二像素行。