[发明专利]LED制备方法及LED有效
申请号: | 201910282870.5 | 申请日: | 2019-04-10 |
公开(公告)号: | CN110061105B | 公开(公告)日: | 2020-09-01 |
发明(设计)人: | 张宇;康建;杨天鹏;戚雪林;周荣 | 申请(专利权)人: | 江西圆融光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/02;H01L33/12;H01L33/32 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 文小莉;刘芳 |
地址: | 337000 江西*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | led 制备 方法 | ||
1.一种LED制备方法,其特征在于,包括:
在衬底上形成AlN层;
在所述AlN层上依次生长无掺杂GaN层和N型GaN层;
在所述N型GaN层上生长电子扩散层;
在所述电子扩散层上生长应力释放层,其中,所述生长应力释放层包括重复生长层叠的、超晶格生长的InN层和InGaN层;
在所述应力释放层上生长发光层;
在所述发光层上生长P型GaN层;
所述在所述应力释放层上生长发光层,包括:
在所述应力释放层上生长第一发光层;
所述在所述应力释放层上生长第一发光层,包括:
生长InGaN层;
生长掺杂Si的N型GaN层;
重复生长InGaN层和N型GaN层。
2.根据权利要求1所述的LED制备方法,其特征在于,所述在所述电子扩散层上生长应力释放层,包括:
控制反应温度为800-850℃,压力为100-300托,通入氮气、氨气、In源在所述电子扩散层上生长厚度为1-2nm的掺杂In的InN层;
控制反应温度为800-850℃,压力为100-300托,通入氮气、氨气、第二镓源、In源和SiH4,在所述InN层上生长厚度为3-6nm的InGaN层;
重复生长所述InN层和所述InGaN层,重复次数为6-15次。
3.根据权利要求1所述的LED制备方法,其特征在于,所述在所述电子扩散层上生长应力释放层,包括:
控制反应温度为800-850℃,压力为100-300托,通入氮气、氨气、第二镓源、In源和SiH4,在所述电子扩散层上生长厚度为3-6nm的InGaN层;
控制反应温度为800-850℃,压力为100-300托,通入氮气、氨气、In源在所述InGaN层生长厚度为1-2nm的掺杂In的InN层;
重复生长所述InGaN层和所述InN层,重复次数为6-15次。
4.根据权利要求1所述的LED制备方法,其特征在于,所述在所述电子扩散层上生长应力释放层之前,还包括:
控制反应温度为850-950℃,压力为100-300托,通入氮气、氨气、第一镓源和SiH4,在所述电子扩散层上生长厚度为30-60nm的掺杂Si的N型GaN层;
所述在所述电子扩散层上生长应力释放层,包括:
在所述电子扩散层上形成的所述N型GaN层上生长所述应力释放层。
5.根据权利要求1-4任一项所述的LED制备方法,其特征在于,所述在所述应力释放层上生长发光层之前,还包括:
控制反应温度为900-950℃,压力为100-300托,通入氮气、氨气、第一镓源和SiH4,在所述应力释放层上生长厚度为10-30nm的掺杂Si的N型GaN层;
所述在所述应力释放层上生长发光层,包括:
在所述应力释放层上形成的所述N型GaN层上生长所述发光层。
6.根据权利要求1-4任一所述的LED制备方法,其特征在于,所述在所述应力释放层上生长第一发光层,还包括:
在所述第一发光层上生长第二发光层。
7.根据权利要求1所述的LED制备方法,其特征在于,所述生长InGaN层,包括:
控制反应温度为700-750℃,压力为100-300托,通入氮气、氨气、第二镓源和In源,生长2.5-4.5nm的InGaN层;
所述生长掺杂Si的N型GaN层,包括:
控制反应温度为900-980℃,压力为100-300托,通入氮气、氨气、第二镓源和SiH4,生长8-16nm的掺杂Si的N型GaN层;
所述重复生长InGaN层和N型GaN层,重复次数为10-15次。
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