[发明专利]一种实验室用脑部穿刺精度检测装置及其使用方法在审
申请号: | 201910285288.4 | 申请日: | 2019-04-10 |
公开(公告)号: | CN109887392A | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 周军;黄志翔;李学恩;皇攀凌;潘春阳;吴闻昊;周民法 | 申请(专利权)人: | 山东大学;山东大学齐鲁医院 |
主分类号: | G09B23/28 | 分类号: | G09B23/28;G09B23/30 |
代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 王楠 |
地址: | 250199 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 穿刺 靶点 颅脑 测试 精度检测装置 直线进给 分析 主机 空间位移传感器 定量分析 漂移 传统手段 检测装置 偏移现象 人员优化 上下移动 实验模拟 手术参数 直观模拟 组织变形 固定簧 移位 显示器 进针 脑部 直观 观察 | ||
1.一种实验室用脑部穿刺精度检测装置,其特征在于,包括穿刺部、颅脑模型、测试部和分析部;
穿刺部,包括穿刺模块和直线进给模块,直线进给模块带动穿刺模块上下移动,进而穿刺模块对颅脑模型进行靶点穿刺;
测试部,包括空间位移传感器和柔性固定簧,颅脑模型安放在测试部内;
分析部,包括显示器和分析主机,分析主机与测试部连接。
2.如权利要求1所述的实验室用脑部穿刺精度检测装置,其特征在于,所述直线进给模块包括步进电机、进给轴、进给滑块;进给滑块与进给轴螺纹连接,步进电机与进给轴传动连接,通过步进电机驱动进给轴转动从而使进给滑块沿进给轴上下移动。
3.如权利要求2所述的实验室用脑部穿刺精度检测装置,其特征在于,所述穿刺模块包括力学传感器和穿刺针,力学传感器安装在进给滑块上,穿刺针的尾端固定连接力学传感器。
4.如权利要求3所述的实验室用脑部穿刺精度检测装置,其特征在于,所述颅脑模型包括颅骨模型和颅内组织模型,颅内组织模型置于颅骨模型内。
5.如权利要求1所述的实验室用脑部穿刺精度检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括颅脑支撑平台,颅脑支撑平台包括立板以及连接立板上部的支撑圆环,颅脑模型放置在支撑圆环上。
6.如权利要求4所述的实验室用脑部穿刺精度检测装置,其特征在于,所述测试部还包括核团模型,核团模型位于颅内组织模型内,柔性固定簧一端与颅骨模型内表面连接、另一端与核团模型连接,核团模型的表面设置有压敏材料层,空间位移传感器置于核团模型的中心。
7.如权利要求6所述的实验室用脑部穿刺精度检测装置,其特征在于,所述分析主机通过导线连接力学传感器、空间位移传感器、压敏材料层。
8.如权利要求5所述的实验室用脑部穿刺精度检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括承载平台,承载平台上设置有立轴立柱,直线进给模块固定在立轴立柱一侧;颅脑支撑平台固定在承载平台上。
9.一种如权利要求1-8任一项所述的实验室用脑部穿刺精度检测装置的使用方法,包括以下步骤:
(1)将事先制备好的颅脑模型放置在颅脑支撑平台上,按照实验要求选取穿刺针并安装在力学传感器上;
(2)调整立轴立柱的位置,使穿刺针与核团模型的中心处于同一铅锤线上,将此时空间位移传感器的坐标设为原点O(0,0,0);
(3)启动分析主机以及步进电机,穿刺针在步进电机的驱动下向下直线运动,开始对颅脑模型进行穿刺实验;
(4)在穿刺过程中,当穿刺针挤压、穿刺颅内组织模型时,颅内组织发生形变引起核团模型的偏移,此时内置的空间位移传感器将自身的实时坐标传送至分析主机,分析主机会在对应的笛卡尔坐标系中实时构建传感器空间位移曲线;
(5)在穿刺过程中,由于受到颅内组织模型变形、核团模型偏移以及穿刺针挠曲变形的影响,穿刺点位置相对于设定的靶点位置O1(0,0)会发生偏差,当穿刺针触碰到核团模型的压敏材料表面,此时分析主机接收到压敏材料表面阻值变化的信号,停止进针,分析主机根据穿刺点到核团模型表面四个角的距离,计算出穿刺点在坐标系X1O1Y1内的坐标。
10.如权利要求9所述的实验室用脑部穿刺精度检测装置的使用方法,其特征在于,步骤(1)中,颅脑模型的制备过程如下:通过3D打印,复刻颅骨模型并将其固定在颅脑支撑平台上,根据丘脑底核的位置固定好核团模型;采用物理交联法,通过改变聚乙烯醇的含量和冷冻/解冻循环次数来改变胶体力学性能,配置力学性能接近脑组织力学性能的透明胶体,将其注入颅骨模型,形成颅内组织模型。
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