[发明专利]一种检测平板平面度和平行度的量具有效
申请号: | 201910285380.0 | 申请日: | 2019-04-10 |
公开(公告)号: | CN109974566B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 徐旭松;叶超;朱敏浩;许孟然;刘梦;刘健;曹清林 | 申请(专利权)人: | 江苏理工学院 |
主分类号: | G01B5/28 | 分类号: | G01B5/28;G01B5/24 |
代理公司: | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 王巍巍 |
地址: | 213001 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 平板 平面 平行 量具 | ||
本发明为一种检测平板平面度和平行度的量具,其特征在于:包括压件板、千分表和支撑台,所述支撑台侧部连接有滑动导轨,所述滑动导轨上滑动设置有第一导轨滑块;所述压件板与所述支撑台平行,所述压件板通过所述第一导轨滑块与所述滑动导轨滑动连接,所述压件板上设有若干测量孔,所述测量孔内活动设置有测量销,所述测量销底端突出所述测量孔,所述千分表用于检测所述测量销在所述测量孔中的位置。本发明能够在现场测量大厚度平板面的平面度和平行度,可以及时的反馈测量过程中的数据情况,从而能够提高效率。
技术领域
本发明涉及机械工业化领域,尤其涉及一种检测平板平面度和平行度的量具。
背景技术
现阶段机械零件的平面度检具无法覆盖整个平面,测量需要分为多次操作,不仅耗费过多的时间降低了效率,而且增加了测量过程中的人为误差;而采用激光衍射等传感器测量方法测量虽然效率好,但成本较高,不适合现场测量,并且只适合于光洁度小的平面,对于粗糙度较大的平面则测量结果会产生滞后误差,无法保证平面度和平行度的精度,解决不了实际检测时的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种用于测量零件平面度和平行度的量具,包括一种检测平板平面度和平行度的量具,包括压件板、千分表和支撑台,所述支撑台侧部连接有滑动导轨,所述滑动导轨上滑动设置有导轨滑块;所述压件板与所述支撑台平行,所述压件板通过所述导轨滑块与所述滑动导轨滑动连接,可以实现所述压件板的上下往复运动,所述压件板上设有若干测量孔,所述测量孔内活动设置有测量销,所述测量销底端突出所述测量孔,所述千分表用于检测所述测量销在所述测量孔中的位置,所述压件板上方还设置有与其平行的置表板,所述置表板通过第二滑块与所述滑动导轨滑动连接,所述置表板上设置有与所述测量孔相对应的测量圆柱孔,所述千分表与所述测量圆柱孔配合,所述置表板上设置有顺次连接所述测量圆柱孔的滑动槽,所述置表板上还设置有用于连接距离最大的两个测量圆柱孔的滑道;测量平行度时,以平板的底面为基准面,所述千分表在所述滑动槽中快速定位所述测量销的位置,对顺次连接 的测量圆柱孔所对应的所述测量销进行测量,读取每一个测量值,将测量值中最大和最小的数值进行差值运算,可得平板的顶面相对于底面的平行度;测量平面度时,采用对角线法,取所述滑道所对应的所述测量销的上表面为理想平面,当所述压件板压上工件时,所述千分表沿着所述滑道开始测量,取初始点为A点,取终止点为B点,它们相对于理想平面的偏差为δ1 和δn,所述千分表精准定位每一个所述测量圆柱孔,测量结束后,将测得的数据按照下述公式进行计算:
式中,n为测点个数;λi为平面度;δi为测点相对于理想平面的位移量;Δi为测点相对两端点连线的位移量;1≤i≤n;
将所测得的所有被测点的理论偏差算出后,取其中的最大和最小的数值进行差值运算,可得到平面度误差。
作为优选,所述置表板的一端设置有第一拉把,所述压件板的一端设置有第二拉把,所述拉把方便上下拉动所述置表板和所述压件板。
进一步地,所述支撑台侧部固定设有与其垂直的侧板,所述滑动导轨固定设置在所述侧板上,所述支撑台的一端侧面为斜面,便于工件的放置,所述置表板的上下表面均为光滑表面,会使测量结果更准确。
作为优选,所述测量销的高度与所述测量孔的深度相同,所述测量销的径向开有限位孔,若干所述测量孔在所述压件板上呈列状排布,所述压件板侧面开设有贯通每排所述测量孔的轴孔;所述轴孔内设置有固定轴,所述固定轴穿过所述测量孔和所述测量销上的限位孔将所述测量销限位在所述测量孔内,所述固定轴在所述测量销轴向上的尺寸小于所述限位孔的尺寸,使得所述测量销底端突出所述测量孔,便于测量零件的平面度和平行度。
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