[发明专利]一种光程改变装置及光学干涉系统

说明书

本发明公开了一种光程改变装置，包括介质体和光学面，介质体包括两者相对且相互平行的成对表面，入射光从成对表面的任意一表面进入介质体，从成对表面的另一表面透射出，透射光的传播方向与入射光的传播方向一致且透射光照射到光学面，介质体可旋转而使入射光进入介质体的入射角改变，光学面用于调整光的传播方向。本光程改变装置应用在光学系统中用于改变光程，能够克服现有推扫式的改变光程方法对无倾斜性要求高，会产生较高的实现代价的问题。本发明还公开一种光学干涉系统。

技术领域

本发明涉及光学应用技术领域，特别是涉及一种光程改变装置。本发明还涉及一种光学干涉系统。

背景技术

近年来，随着光学技术在测量领域的应用逐步深入，以相干光学为理论基础的应用日益增多，例如长度测量、振动测量、傅里叶变换光谱测量等。应用相干光学理论的测量技术都需要通过改变部分光路的光程，实现改变测量系统的光程差，使得根据光程差变化并通过后续处理方法，获得目标信息。

现有技术中，采用的改变光程方法主要是推扫式，例如在时间调制型傅里叶变换光谱调制技术中，需要安置一面沿直线平移运动的反射面，又如在长度变化测量或者振动测量中，将被测物体随时间沿直线平移运动进而造成光程的改变。但是，这种将反射面沿直线平移运动的方式，要求反射面无倾斜地沿直线平移运动，因为如果反射面发生倾斜，会导致参考光波前和测量光波前失去平行关系，产生交角，将引起干涉信号光光强的波动，采样偏离真值，会导致测量结果发生偏差，因此该方式对无倾斜性要求高，进而产生较高的实现代价。

发明内容

本发明的目的是提供一种光程改变装置，应用在光学系统中用于改变光程，能够克服现有推扫式的改变光程方法对无倾斜性要求高，会产生较高的实现代价的问题。本发明还提供一种光学干涉系统。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种光程改变装置，包括介质体和光学面，所述介质体包括两者相对且相互平行的成对表面，入射光从所述成对表面的任意一表面进入所述介质体，从所述成对表面的另一表面透射出，透射光的传播方向与入射光的传播方向一致且透射光照射到所述光学面，所述介质体可旋转而使入射光进入所述介质体的入射角改变，所述光学面用于调整光的传播方向。

优选的，成对的两个表面都为平面。

优选的，所述介质体包括一组或者多组成对表面。

优选的，所述介质体的形状为对称的几何形状，所述介质体的形状为正方体、长方体或者六面柱体。

优选的，所述光学面为反射面、透射面或者半反半透面。

优选的，所述光学面为反射面，从所述成对表面的另一表面透射出的光垂直照射到所述光学面，所述光学面用于将光反射回所述介质体使光原路返回。

优选的，还包括与所述介质体连接的用于驱动所述介质体旋转的驱动机构。

优选的，所述驱动机构的转轴与所述介质体的旋转中心轴平行。

优选的，所述光程改变装置的谱段涵盖紫外光波段、可见光波段和红外光波段。

一种光学干涉系统，包括以上所述的光程改变装置。