[发明专利]一种TOF深度模组的标定方法、装置及系统有效
申请号: | 201910290128.9 | 申请日: | 2019-04-11 |
公开(公告)号: | CN110111384B | 公开(公告)日: | 2021-11-26 |
发明(设计)人: | 王倩;宋林东 | 申请(专利权)人: | 歌尔光学科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/70 | 分类号: | G06T7/70;G06T7/50 |
代理公司: | 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 | 代理人: | 马铁良;柳岩 |
地址: | 261031 山东省潍坊市高新区*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tof 深度 模组 标定 方法 装置 系统 | ||
1.一种TOF深度模组的标定方法,其特征在于,包括:
获取测试面板上的每一测试点至TOF深度模组的测量距离值,其中,所述测试面板为一个平面,所述测量距离值由所述TOF深度模组的采集单元通过采集所述测试面板的图像获得,所述测量距离值是指所述TOF深度模组的采集单元至任意一个测量点的直线距离值,各个距离平面中心的距离不同的测试点至所述TOF深度模组的测量距离值不同;
获取所述测试面板上的每一测试点至所述TOF深度模组的实际距离值;
以对应同一测试点的所述实际距离值和所述测量距离值作为标定样本,标定用于修正所述TOF深度模组的测量距离值的修正函数。
2.根据权利要求1所述的标定方法,其特征在于,所述方法还包括:
检测标定得到的所述修正函数是否满足设定要求;
在不满足所述设定要求的情况下,再一次执行所述获取测试面板上的每一测试点至TOF深度模组的测量距离值的操作,以获得新的所述标定样本。
3.根据权利要求2所述的标定方法,其特征在于,所述检测标定得到的所述修正函数是否满足设定要求,包括:
根据每一测试点的测量距离值和标定得到的所述修正函数,获得每一测试点的修正后的测量距离值;
获取所述标定后的测量距离值与对应同一测试点的所述实际距离值之间的误差值;
检测所述误差值是否在预设误差范围内,若在所述预设误差范围内,则确定所述修正函数满足设定要求。
4.根据权利要求1所述的标定方法,其特征在于,所述标定用于修正所述TOF深度模组的测量距离值的修正函数,包括:
获取预设的所述修正函数的函数表达式;
根据所述函数表达式和所述标定样本,标定所述函数表达式中的常系数。
5.根据权利要求4所述的标定方法,其特征在于,所述根据所述函数表达式和所述标定样本,标定所述函数表达式中的常系数,包括:
获取待标定的各距离区间;
根据所述标定样本的实际距离值所属的距离区间,对所述标定样本进行分组,获得每一距离区间对应的标定样本;
针对每一所述距离区间,利用对应标定样本标定所述函数表达式中的常系数,得到对应距离区间的修正函数。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的标定方法,其特征在于,所述获取测试面板上的每一测试点至TOF深度模组的测量距离值包括:
多次获取每一测试点至TOF深度模组的测量值;
将各个测试点自身的测量值相加并取平均值,将每个所述平均值作为对应该平均值的测试点的所述测量距离值。
7.一种TOF深度模组的标定装置,其特征在于,包括:
测量距离值获取单元,所述测量距离值获取单元用于获取测试面板上的每一测试点至TOF深度模组的测量距离值,其中,所述测试面板为一个平面,所述测量距离值由所述TOF深度模组通过采集所述测试面板的图像获得,所述测试面板上包括多个测试点,每个测试点至TOF深度模组的测量距离值不同,所述测量距离值是指所述TOF深度模组的采集单元至任意一个测量点的直线距离值,各个距离平面中心的距离不同的测试点至所述TOF深度模组的测量距离值不同;
实际距离值获取单元,所述实际距离值获取单元用于获取所述测试面板上的每一测试点至所述TOF深度模组的实际距离值;
标定单元,所述标定单元用于以对应同一测试点的所述实际距离值和所述测量距离值作为标定样本,标定用于修正所述TOF深度模组的测量距离值的修正函数。
8.一种电子设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并能够在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6中任意一项所述的TOF深度模组的标定方法。
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