[发明专利]航天器自主温控系统闭环测试系统及测试方法

说明书

本发明涉及一种星载电子设备技术领域的航天器自主温控系统闭环测试系统及测试方法；所述测试系统所述系统包括航天器自主温控系统和闭环测试系统；所述航天器自主温控系统包括遥测采集模块、加热器驱动模块、处理器模块；所述闭环测试系统包括热敏电阻模拟板卡、加热器驱动检测板卡、上位机、测试终端；本发明还涉及前述测试系统的测试方法。本发明系统提出了航天器自主温控系统闭环测试方法，明确了闭环测试系统的相关组成，本发明的系统结构简单可靠，稳定性好，测试方法操作简便，测试效果良好；能够大幅缩短产品测试周期，提高研制的进度，提升研制的可靠性和测试效率，提高自主温控系统的测试覆盖性，具有显著的技术进步。

技术领域

本发明涉及星载电子设备技术领域，具体涉及一种航天器自主温控系统闭环测试系统及测试方法。

背景技术

目前航天器上普遍采用两种温控方式，即主动温控和被动温控。最经典最常用的设计方法是被动温控为主、主动温控为辅，被动温控中运用比较广泛的是热控涂层，主动温控则一般采用加热片、流体回路等。航天器自主温控系统实现对航天器各舱段进行温度测量和控制，保证航天器的结构部件、仪器设备在空间环境中处于一个合适的温度范围，使其能够正常工作，是最常采用的主动温控技术之一。

航天器自主温控系统作为自动控制装置，具有一般控制器的特征，由温度信号采集、控制产生、控制执行三部分组成。其中温度信号一般通过热敏电阻测量，经AD量化后转化为电压信号采集，并将采集到的温度信号统一送至处理器进行计算判决，以确定是否需要驱动加热器或关断加热器，从而将温度控制在一定的区间内。

随着技术的发展，仪器设备的温度控制要求越来越高，加热器数量、温度测量点数量需求越来越多，控温策略越来越多样，导致自主温控系统复杂度大幅增加，产品测试周期成倍增长，严重影响研制进度和可靠性。另外，由于航天器研制流程的特殊性，只有在研制后期热试验时才能对自主温控系统进行比较真实的闭环模拟测试，时间比较滞后。因此，自主温控系统开发方测试显得尤为重要。本领域亟需提出全新的航天器自主温控系统的闭环测试方法，以便提高测试效率和产品可靠性。

经对现有技术的文献检索发现，中国发明专利申请201110309956.6披露了一种温度闭环控制装置及测试方法，该发明的温度闭环控制装置，包括夹具、设置在夹具内的至少一个温度传感器、控制装置及执行装置；但是该发明记载的方法应用于航天器自主温控系统的测试时难以取得良好的效果。

发明内容

针对现有技术的缺陷，本发明的目的在于提供一种航天器自主温控系统闭环测试方法。本发明的测试方法能够提高测试效率，保证产品正确性和可靠性。

本发明涉及一种航天器自主温控系统闭环测试系统，所述系统包括航天器自主温控系统和闭环测试系统；

所述航天器自主温控系统包括遥测采集模块、加热器驱动模块、处理器模块；

所述遥测采集模块采集航天器控温点温度遥测，处理器模块根据采集到的控温点温度和加热器的控温要求，确定是否输出加热器开关指令；

所述加热器驱动模块接收并执行加热器开关指令，处理器模块同时将控温点温度、加热器开关状态的遥测通过测控通道下传至测试终端；

所述闭环测试系统包括热敏电阻模拟板卡、加热器驱动检测板卡、上位机、测试终端；所述热敏电阻模拟板卡模拟航天器控温点状态供遥测采集模块采集，加热器驱动检测板卡检测加热器驱动模块输出的开关状态，上位机控制热敏电阻模拟板卡的输出策略并接收加热器驱动检测板卡的检测信息，由测试终端接收航体器遥测信息和测试系统测试信息，经分析比较输出闭环测试结果，进而完成闭环测试。

本发明还涉及一种如前述航天器自主温控系统闭环测试系统的测试方法，包括如下步骤：