[发明专利]一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法有效

专利信息
申请号: 201910293958.7 申请日: 2019-04-12
公开(公告)号: CN109986472B 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 樊炜;刘晓卓;张云飞;黄文;张连新;王亚军;柯瑞 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
主分类号: B24C1/08 分类号: B24C1/08;G06F17/15;G01B11/24;G01B11/00
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 伍星
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 干涉仪 复合 测量 射流 抛光 去除 函数 提取 方法
【权利要求书】:

1.一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、采用激光干涉仪测量采斑前的工件面形;

S2、在射流抛光机床上采集入射时间为的射流抛光斑,采用激光干涉仪测量采斑后的工件面形;用白光干涉仪测量采斑后面形,测量得到的面形为的方形区域,面形用表示;

S3、将面形进行预处理,以获得无噪声且无“孔洞”的面形;

S4、通过粒子群优化算法确定面形中的方形区域;

S5、确定射流抛光斑边界;

S6、计算采斑前工件在区域内的白光干涉仪分辨率下的面形;

S7、计算去除函数矩阵:根据光斑的边界∂σ,获取面形中区域的面形,计算去除量分布矩阵;计算去除函数矩阵,其中是采斑时间,表示是矩阵的最大元素值与矩阵每个元素相减得到的新矩阵。

2.根据权利要求1所述的一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法,其特征在于,步骤S3中对面形进行预处理的方法为:

步骤一:用大尺寸窗口沿工件边界进行“粗补洞”:设扫描窗口矩阵的左上顶点为当前扫描元素,的大小为,其中,表示面形矩阵的行数;以为扫描窗口矩阵左上顶点的间距;对于每个窗口的局部面形,如果数据,则取,其中是面形矩阵有效元素的平均值;执行上述步骤,直到处理完沿边界的所有窗口;

步骤二:使用较小尺寸的窗口对整个面形进行“精补洞”:设扫描窗口矩阵的左上顶点为当前扫描元素,的大小取为,其中,以为扫描窗口矩阵左上顶点的间距;对于每个窗口的局部面形,如果数据,则取,其中是面形矩阵元素的平均值;执行上述步骤,直到处理完沿边界的所有窗口,获得无“孔洞”的采斑后工件面形;

步骤三:确定严重噪声边界区域:

(1)以面形中心位置为圆心,圆形区域的边界半径为、搜索步长为,的初始值取,计算区域的面形误差平均值;

(2)判断区域内是否存在面形元素满足,其中是给定系数;

(3)根据上一步的判断,若存在满足步骤(2)中条件的面形元素,则确定为发生严重噪声的边界;否则取,返回(2);

步骤四:以面形的左上角元素为顶点、扫描窗口矩阵左上角顶点元素的间距,逐个提取大小为的扫描窗口矩阵覆盖面形,确定面形中的所有扫描窗口矩阵的处理顺序,这里;计算面形中所有扫描窗口矩阵的均方差值;根据的升序对所有窗口的处理顺序进行排序;

步骤五:对每个窗口矩阵按步骤一至四进行处理,其中每个窗口矩阵的去噪规则如下:取窗口矩阵的元素均值作为标准,并给定噪声阈值;如果数据和之间的差的绝对值大于阈值,则数据被视为噪声,并且将除噪声位置外的面形数据的中值替换当前的噪声数据;

依序扫描并处理所有的窗口,从而产生边界区域内没有噪声的面形;

步骤六:通过二维中值滤波函数计算最终的面形。

3.根据权利要求1所述的一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法,其特征在于,所述步骤S4中,在面形中确定方形区域的方法为:

步骤一:将区域的左上顶点在面形矩阵中的行列号记为,该顶点位于面形中给定的备选区域,面形矩阵有效数据的行列号为,白光干涉仪和激光干涉仪的分辨率是和,方形区域的位置取决于,记为;设和分别是面形和中方向区域的边界,和分别是和的有效数据个数,则区域中激光干涉仪和白光干涉仪测量的面形精度差异是:

行列号处的面形误差为:

其中,,表示的整数部分;

通过粒子群优化算法求解下面的优化问题确定行列号:

步骤二:计算面形矩阵中区域的四个顶点行列号:记,四个顶点的行列号分别为, , , 。

4.根据权利要求1所述的一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法,其特征在于,步骤S5中,的确定方法为:

(A):计算激光干涉仪测量的采斑前后的面形之差:;根据的顶点行列号从面形矩阵提取面形,令为初始面形的峰谷值,为激光干涉仪的测量精度,是给定的正整数步长;设是第步的方形边界之外的面形峰谷值,的左上顶点在面形矩阵的指标表示为(;令,取(,;计算;

(B):若满足,则停止搜索,将抛光斑边界取为; 否则令,,,返回步骤(A)。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院机械制造工艺研究所,未经中国工程物理研究院机械制造工艺研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910293958.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top