[发明专利]一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法有效
申请号: | 201910293958.7 | 申请日: | 2019-04-12 |
公开(公告)号: | CN109986472B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 樊炜;刘晓卓;张云飞;黄文;张连新;王亚军;柯瑞 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 |
主分类号: | B24C1/08 | 分类号: | B24C1/08;G06F17/15;G01B11/24;G01B11/00 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 伍星 |
地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 干涉仪 复合 测量 射流 抛光 去除 函数 提取 方法 | ||
1.一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、采用激光干涉仪测量采斑前的工件面形;
S2、在射流抛光机床上采集入射时间为的射流抛光斑,采用激光干涉仪测量采斑后的工件面形;用白光干涉仪测量采斑后面形,测量得到的面形为的方形区域,面形用表示;
S3、将面形进行预处理,以获得无噪声且无“孔洞”的面形;
S4、通过粒子群优化算法确定面形中的方形区域;
S5、确定射流抛光斑边界;
S6、计算采斑前工件在区域内的白光干涉仪分辨率下的面形;
S7、计算去除函数矩阵:根据光斑的边界∂
2.根据权利要求1所述的一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法,其特征在于,步骤S3中对面形进行预处理的方法为:
步骤一:用大尺寸窗口沿工件边界进行“粗补洞”:设扫描窗口矩阵的左上顶点为当前扫描元素,的大小为,其中,表示面形矩阵的行数;以为扫描窗口矩阵左上顶点的间距;对于每个窗口的局部面形,如果数据,则取,其中是面形矩阵有效元素的平均值;执行上述步骤,直到处理完沿边界的所有窗口;
步骤二:使用较小尺寸的窗口对整个面形进行“精补洞”:设扫描窗口矩阵的左上顶点为当前扫描元素,的大小取为,其中,以为扫描窗口矩阵左上顶点的间距;对于每个窗口的局部面形,如果数据,则取,其中是面形矩阵元素的平均值;执行上述步骤,直到处理完沿边界的所有窗口,获得无“孔洞”的采斑后工件面形;
步骤三:确定严重噪声边界区域:
(1)以面形中心位置为圆心,圆形区域的边界半径为、搜索步长为,的初始值取,计算区域的面形误差平均值;
(2)判断区域内是否存在面形元素满足,其中是给定系数;
(3)根据上一步的判断,若存在满足步骤(2)中条件的面形元素,则确定为发生严重噪声的边界;否则取,返回(2);
步骤四:以面形的左上角元素为顶点、扫描窗口矩阵左上角顶点元素的间距,逐个提取大小为的扫描窗口矩阵覆盖面形,确定面形中的所有扫描窗口矩阵的处理顺序,这里;计算面形中所有扫描窗口矩阵的均方差值;根据的升序对所有窗口的处理顺序进行排序;
步骤五:对每个窗口矩阵按步骤一至四进行处理,其中每个窗口矩阵的去噪规则如下:取窗口矩阵的元素均值作为标准,并给定噪声阈值;如果数据和之间的差的绝对值大于阈值,则数据被视为噪声,并且将除噪声位置外的面形数据的中值替换当前的噪声数据;
依序扫描并处理所有的窗口,从而产生边界区域内没有噪声的面形;
步骤六:通过二维中值滤波函数计算最终的面形。
3.根据权利要求1所述的一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法,其特征在于,所述步骤S4中,在面形中确定方形区域的方法为:
步骤一:将区域的左上顶点在面形矩阵中的行列号记为,该顶点位于面形中给定的备选区域,面形矩阵有效数据的行列号为,白光干涉仪和激光干涉仪的分辨率是和,方形区域的位置取决于,记为;设和分别是面形和中方向区域的边界,和分别是和的有效数据个数,则区域中激光干涉仪和白光干涉仪测量的面形精度差异是:
行列号处的面形误差为:
其中,,表示的整数部分;
通过粒子群优化算法求解下面的优化问题确定行列号:
步骤二:计算面形矩阵中区域的四个顶点行列号:记,四个顶点的行列号分别为, , , 。
4.根据权利要求1所述的一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法,其特征在于,步骤S5中,的确定方法为:
(A):计算激光干涉仪测量的采斑前后的面形之差:;根据的顶点行列号从面形矩阵提取面形,令为初始面形的峰谷值,为激光干涉仪的测量精度,是给定的正整数步长;设是第步的方形边界之外的面形峰谷值,的左上顶点在面形矩阵的指标表示为(;令,取(,;计算;
(B):若满足,则停止搜索,将抛光斑边界取为; 否则令,,,返回步骤(A)。
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