[发明专利]一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统及其方法

说明书

本发明涉及一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统及其方法，用于对LED样品进行特征参量采集以及用于对LED样品进行寿命试验与寿命评估，包括：电源模块、老化箱、数据采集模块、人机交互模块、寿命评估模块；以及一种LED老化状态自动检测与寿命评估方法，将LED样品置入老化箱进行加速老化试验；LED样品寿命试验参数传输至寿命评估模块，寿命评估模块通过采用概率统计的方法计算寿命试验的LED样品在加速应力下的平均试验时间；寿命评估模块建立多个LED样品的寿命预测模型，并根据试验结果对寿命预测模型进行参数估计；寿命评估模块对该型号、该批次LED样品在实际使用条件下的剩余寿命进行计算,最终获得被测LED在实际使用条件下的使用寿命。

技术领域

本发明属于检测技术领域，具体涉及一种LED的状态检测和寿命评估系统及其方法。

背景技术

现有技术中，LED可以把电能转化成光能，其具备效率高，光色纯，应用灵活，光线质量高等特点，因此在许多光电控制设备中用作光源，在电子设备中用作信号显示器。

然而LED在使用过程中，由于电流及外界环境的影响，其会不可避免的发生老化。LED的老化主要包括芯片的老化以及封装的老化。芯片的老化机理，包括热量积累导致的热机械应力加强、芯片裂纹扩大，工艺不良导致的芯片粘结层完全脱离粘结面等。封装的老化机理主要是高温与潮湿导致封装材料劣化，水汽渗入封装材料内部，导致引线变质、PCB铜线锈蚀，随水汽引入的可动导电离子会驻留在芯片表面，从而造成漏电。老化的LED灯发光效率会大大降低，光色的纯度下降，甚至发生烧毁。

但是LED的老化不易直接观察判断，由于应用数量巨大，也不易通过全部检测来判断。作为现代化节能环保的灯具，一旦发生老化或烧毁，电路将失去指示功能，对维修工作带来巨大的影响。这种现象对于某些重要电路，存在重大的安全隐患。

现有技术中，LED测试技术包括LED电压测量、电流测量、分光检测技术等。虽然人们对LED老化状态有了新的了解和认识，但是对LED进行老化的过程很漫长，目前并没有很好的方式来实现仅对LED实际使用状态所提供的诸如环境温湿度变化、输入电流的变化、光通量的变化、使用时间的变化这类参数通过相应的实验，并加以公式推导来计算出LED实际的剩余使用寿命。

发明内容

本发明的目的是提供一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统和一种LED老化状态自动检测与寿命评估方法，以解决现有技术中存在的LED样品件需要进行长时间试验才能得出使用寿命，无法对LED样品进行寿命预判，导致LED样品件损坏所带来的维修工作难度大的问题。

为了解决上述问题，本发明涉及一种LED老化状态自动检测与寿命评估系统，用于对LED样品进行特征参量采集以及用于对LED样品进行寿命试验与寿命评估，其特征在于，包括：电源模块、老化箱、数据采集模块、人机交互模块、寿命评估模块；

所述电源模块为直流稳压电源，用于为LED样品、所述老化箱、所述数据采集模块、所述人机交互模块和所述寿命评估模块提供稳定的工作电源；

所述老化箱用于对LED样品提供加速老化试验所需温度和湿度，LED样品置入所述老化箱内；

所述数据采集模块用于对LED样品加速老化试验状态进行检测，并将采集到的LED样品加速老化试验状态检测参数提供给寿命评估模块；

所述人机交互模块通过人工干预，对所述数据采集模块采集到参数进行比对调整，并展示被检测LED样品函数关系；所述人机交互模块启动寿命评估模块，以及对所述寿命评估模块的无效的LED样品寿命试验参数进行剔除；

所述寿命评估模块用于根据所述数据采集模块提供的LED样品寿命试验状态检测参数进行运算，以评估单个LED样品在特定环境下的使用寿命。