[发明专利]干涉差动位移法微小力控制系统有效
申请号: | 201910297225.0 | 申请日: | 2019-04-15 |
公开(公告)号: | CN109917828B | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 朱振宇;段小艳;任冬梅 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
主分类号: | G05D15/01 | 分类号: | G05D15/01;G01B11/02;G01D5/26;G01L1/00 |
代理公司: | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人: | 邬晓楠 |
地址: | 100095*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 干涉 差动 位移 微小 控制系统 | ||
1.干涉差动位移法微小力控制系统,其特征在于:主要由控制及信息输出模块(1)、光学测量模块(2)、微小力发生模块(3)组成;控制及信息输出模块(1)用于测量光学测量信号,微小力发生、解算、控制及信号的外部通讯;光学测量模块(2)用于将测量值及计算控制值与微小力值建立相互的对应关系,综合计算输出微小力的数据;微小力发生模块(3)利用静电力方法,采用梳齿结构提高静电力获得微小力值的分辨能力和范围;所述的干涉差动位移法微小力控制系统通过控制静电力的变化,利用结构的弹性形变的方法产生微小力值,光学测量模块(2)采用激光干涉测量方法作为微小力值闭环控制测量单元,通过测量弹性形变产生的位移变化间接获取微小力值,其中在微小位移恒定时,加载电压的平方和微小力值呈线性关系;当加载电压恒定时,微小力值与微小位移呈线性关系;工作中,激光干涉测量采用差动测量方法以提高测量的准确性,并实现确定微小力的量值输出控制和复现;
光学测量模块(2)包括光源、1/4波片、偏振分光棱镜、1/2波片、反射镜、光电接收器等必要的光学元件,用于位移测量的光学干涉实现,其中包括光学扩束、分光及光电转换;
微小力发生模块(3)要包括微小力值发生的执行机构,梳齿静电力发生结构,采用静电力驱动弹性结构体变形,结合控制与信息输出模块完成弹性体变形及其位置控制,实现微小力值的产生;
确定微小力的量值方法任选如下两种方法中一种,方法一:约束加载电压,通过测量弹性变形结构的位移变化来间接测量出微小力值的量值;方法二:采用约束微小位移值,通过电压测量来确定微小力的量值;
干涉差动位移法微小力控制系统还包括准直器(4)、第一1/4波片(5)、第一偏振分光棱镜(6)、第一平面反射镜(7)、第一1/2波片(8)、第二偏振分光棱镜(9)、第二1/4波片(10)、第三偏振分光棱镜(11)、第三1/4波片(12)、第四1/4波片(13)、第四偏振分光棱镜(14)、第五偏振分光棱镜(15)、第五1/4波片(16)、第六偏振分光棱镜(17)、第六1/4波片(18)、第七1/4波片(19)、第二平面反射镜(20)、第一光电转换器(21)、第二光电转换器(22)、梳齿固定极板(23)、梳齿运动极板(24)、微小力值测头(25);
干涉差动位移法微小力控制系统的工作方法为:以经过准直器(4)的出射光作为干涉用光源;光束经第一1/4波片(5)和第一偏振分光棱镜(6)形成测量光与测量参考光,两束光偏振方向互相垂直,均为线偏振光;其中测量光经第一平面反射镜(7)入射,测量线偏振光经第一1/2波片(8)旋转偏振方向90度,经第二偏振分光棱镜(9)透射,反射于运动梳齿反射区并两次通过第二1/4波片(10)偏振方向旋转90度,反射于第二偏振分光棱镜(9)入射第三偏振分光棱镜(11)再次反射于运动梳齿反射区,两次通过第三1/4波片(12)并透射通过第三偏振分光棱镜(11),通过第四1/4波片(13)成为圆偏振光于第四偏振分光棱镜(14)与参考光形成干涉光;参考光透射通过第一偏振分光棱镜(6)和第五偏振分光棱镜(15)反射于固定梳齿平板反射区,两次通过第五1/4波片(16)并透射通过第六偏振分光棱镜(17),经过第七1/4波片(19)变圆偏振光后到达第二反射镜,反射后在第四分光棱镜与测量光汇合形成干涉光;干涉光经第四偏振分光棱镜(14)形成干涉信号分别于第一光电转换器(21),第二光电转换器(22)将光信号转化为电信号传输到控制系统得到干涉测量的位移信号;通过在固定梳齿和运动梳齿两个极板加载电荷产生静电梳齿力,通过电荷大小控制两梳齿极板的距离,并结合干涉测量的位移共同控制实现微小力值的控制与复现输出。
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